測驗方法
熱斑效應在實際使用太陽電池中，若熱斑效應產生的溫度超過了一定極限將會使電池組件上的焊點熔化並毀壞柵線，從而導致整個太陽電池組件的報廢。據國外權威統計，熱斑效應使太陽電池組件的實際使用壽命至少減少10%。
熱斑現象是不可避免的，儘管太陽電池組件安裝時都要考慮陰影的影響，並加配保護裝置以減少熱斑的影響。為表明太陽電池能夠在規定的條件下長期使用，需通過合理的時間和過程對太陽電池組件進行檢測，確定其承受熱斑加熱效應的能力。
測驗內容
熱斑效應(1) 輻照源
1，穩態太陽模擬器或自然光，輻照度不低於700W/m2，不均勻度不超過±2%，瞬時不穩定度在±5%以內。
(2) 輻照源
2，C類(或更好)的穩態太陽模擬器或自然光，其輻照度為1000W/m2±10%。
(3)太陽電池組件I-V曲線測試儀。
(4)一組對試驗太陽電池組件遮光增量為5%的不透明蓋板。
(5)一個適當的溫度探測器。
2.在太陽電池組件試驗前應安裝保護裝置(1)將不遮光的組件在輻照源1下照射，測試其I-V特性和最大功率點。
(2)使組件短路，組件在穩定的輻照源1照射下，用適當的溫度探測器測定最熱的電池單片。
(3)完全擋住選定的電池單片，用輻照源2照射組件。在此過程中組件的溫度應該在50℃±10℃。
(4)保持此狀態經過5小時的曝曬。
(5)再次測定組件的I-V特性和最大功率點。
3.要求(1)太陽電池組件無嚴重外觀缺陷；
(2)太陽電池組件最大輸出功率的衰減不超過試驗前測試值的5%；由試驗過程得知，熱斑耐久試驗的最終目的是對太陽電池組件廠商的產品質量有嚴格要求，而試驗過程也對試驗裝置有準確的規定。試驗中，關鍵裝置輻照源的選擇有穩態太陽模擬器和自然光這2種。眾所周知，自然光具有眾多非人為的不穩定因素，諸如地區分布、氣候變化、風向、溫度等。根據實地測試，上海地區夏季正常晴天的中午自然光輻照度僅為700-800W/m2，很難達到1000W/m2的試驗要求，更談何持續5小時的曝曬。
綜上，熱斑耐久試驗通常使用穩態太陽模擬器對太陽電池組件進行檢測。中心自主研發的熱斑耐久檢測設備是實驗室模擬熱斑條件的必需設備，利用此設備進行熱斑耐久加速試驗可以儘早暴露質量問題，降低質量風險，提高產品可靠性和使用壽命，不僅適用於組件熱斑試驗，同時也滿足早期光衰減試驗要求。
設備參數如下：
(1) 有效照射面積：1600mm*1000
(2) 最大輻射強度：>1000W/m2
(3) 光源光譜分布：C級
(4) 均勻度：±9.2%，C級
(5) 瞬時不穩定度：±3%，C級
(6) 人機界面控制：PLC控制，樣品溫度、穩定度、副照度實時顯示和積分功能。
二極體的選擇
熱斑效應1、熱阻係數小越小越好；
2、正向壓降越小越好；
3、正向耐電流越大越好；
4、反向電流越小越好；
5、溫度特性曲線要好。
相關簡介
熱斑效應在實際套用中，太陽能電池一般是由多塊電池組件串聯或並聯起來，以獲得所期望的電壓或電流的。為了達到較高的光電轉換效率，電池組件中的每一塊電池片都須具有相似的特性。在使用過程中，可能出現一個或一組電池不匹配，如：出現裂紋、內部連線失效或遮光等情況，導致其特性與整體不諧調。在合理的光照條件下，一串聯支路中被遮蔽的光伏電池，會由發電單元變為耗電單元，被遮蔽的光伏電池不但對組件輸出沒有貢獻，而且會消耗其它電池產生的電力，此時會發熱，這就是熱斑效應。
相對於晶體矽而言，非晶矽薄膜電池組件在整個組件上膜厚比較均勻，多個子電池的電流匹配良好，不會出現晶體矽組件易發生裂紋或隱裂紋的情況，通過優異的生產工藝和嚴格的質量控制體系製成的非晶矽光伏組件，幾乎不會發生薄膜組件中各子電池內部連結失效的問題。另外，對於晶體矽太陽電池，小遮擋即可引起大功率損失，導致組件溫度過高，嚴重的會燒壞組件，甚至引起重大火災；但非晶矽薄膜電池的電流密度較小，陰影遮擋對於薄膜電池也會存在影響，但是影響要比晶體矽電池小得多。
針對薄膜光伏產品的熱斑效應，國際電工委員會制定了嚴格的認證試驗標準，產品必須在極為嚴酷條件下經受住熱斑效應的測試。薄膜光伏組件經過熱斑耐久試驗之後，首先進行外觀檢查，對任何裂紋、氣泡或脫層等情況進行記錄或拍照。
如果發現標準規定的嚴重外觀缺陷，如：破碎、開裂、彎曲、不規整或損傷的外表面;組件有效工作區域的任何薄膜層有超過一個電池面積10%以上的空隙、看得見的腐蝕，在組件的邊緣和任何一部分電路之間形成連續的氣泡或剝層等，喪失機械完整性，導致組件的安裝或工作都受到影響，則視為不合格。如果存在外觀缺陷但不屬於上述的嚴重外觀缺陷，如：組件有效工作區域的任何薄膜層有空隙和可見的腐蝕，輸出電線有可見的腐蝕等，則拍照進行記錄；如果在對後續的其他測試實驗沒有影響，則認為薄膜光伏組件通過了熱斑效應測試，如果造成影響，則另選兩塊組件重新進行熱斑效應測試。此外，組件在標準試驗條件下的最大輸出功率的衰減不能超過測試前的5%；絕緣電阻應滿足初始試驗的同樣要求。
