測徑儀概述
非接觸式測徑儀科技名詞定義
•中文名稱：雷射測徑儀
英文名稱：laser diameter measuring instrument
定義：用雷射測量工件或材料直徑的儀器。
套用學科：機械工程（一級學科）；光學儀器（二級學科）；雷射器件和雷射設備-雷射套用（二級學科）
測徑儀大至可分為雷射掃描測徑儀，CCD投影測徑儀，雷射衍射測徑儀，其中前兩者都屬光學的幾何原理，後者為利用雷射衍射原理。測徑儀廣泛運用於電線電纜，漆包線，金屬絲，PVC管，以及醫療器械等各種行業。線上檢測和離線檢測均可，並能實現自動反饋控制以及與電腦的在線上通訊。測徑儀行業經過發展已經衍生出了可鏇轉測徑儀和手持式測徑儀。
產品特點
雷射掃描，非接觸式測量，對被測物無損傷。
高速數據處理技術，採樣速度快，精度高，性能穩定可靠。
可帶PID反饋控制系統。
可帶RS485/232通訊接口，能與PC機或PLC進行通訊。
可配備長達200米距離的遠端顯示器。
可配備繼電器偏差驅動報警功能。
雷射掃描測徑儀
這也是用得較多的一種，在國外以beta公司開發較早。雷射掃描測徑儀利用鏇轉的八面鏡將射來的雷射掃描成光帶，再由被測物在光帶上形成陰影寬度，其投影寬度可以通過光電二級管接收並轉換為數位訊號測量得來。其主要適合大直徑測量，據有精度高，測量速度快等特點。目前雷射掃描測徑儀精度最高可達0.5um，小直徑測量由於其光斑本身比被測物大，且產生干涉衍射現象，不容易較好的測量，但輝煌有相關的細絲測徑儀，是利用掃描測量原理。
ZM100雷射測徑儀原理圖雷射掃描測徑儀的構成是由雷射二極體發出的光，經過八面鏡的掃描形成平行光帶通過F(θ)鏡形成側量區域，然後被測物在光帶中形成的陰影在信號處理器9計算出它的大小。
CCD投影測徑儀
由於電機速度畢竟有限，而且掃描的平行光帶不太容易保證，再加上現在平行光管與CCD的技術的發展，現在很多企業開始採用CCD成像法測量直徑，在國內以上海歐勒在這方面做得較早，其光源採用波長較長的紅外光，抗干擾較強，由於少了許多機械件，所以設備較穩定可靠，但CCD成像受相素的制約，在精度上不太容易拓展，特別是大直徑的物體測量，但又不能太細，太細會有掃描測徑儀相同的問題。
雷射衍射測徑儀
利用衍射原理測量細線的直徑，目前這項技術在國內僅輝煌測控一家從德國引進，此技術與前兩項剛好相反，只適用於測小直徑的細絲，而且越細越好，因為此技術是利用衍射原理，理論只有當波長與被測物相近或大於被測長物時衍射最明顯。目前明銳的的產品在測量5um到300um的細絲是沒問題的，據說可以測量到500um。其精度由於限於標準樣件和測試環境的影響，現在只有0.2um左右，但其重複性精度相當高，所以只要有標準樣件和良好的測試環境，精度是可以再次大提高的，這也是細絲測徑儀的一個發展方向。
