定義
比較儀是利用相對法進行測量(見長度計量技術)的長度測量工具,主要由測微儀和比較儀座組成。測量時,先用量塊研合組成與被測基本尺寸相等的量塊組,再用此量塊組使測微儀指針對零,然後換上被測工件,測微儀指針指示的即為被測尺寸的偏差值。分類
按測微儀所採用的放大原理,比較儀可分為機械式比較儀、光學比較儀和電學比較儀3種。1、機械式比較儀 和百分表和千分表、槓桿齒輪式測微儀或扭簧測微儀等機械式指示表作為放大、指示部件。槓桿齒輪式測微儀的工作原理與百分表和千分表相似。但第1級放大機構是槓桿,其分度值通常為1微米。扭簧測微儀是一種具有無機械摩擦放大機構的指示表。它的主要放大元件是一根從中間起一端向右扭曲,另一端向左扭曲的金屬薄片(寬度為0.1毫米左右,厚度為0.005毫米左右),稱為扭簧絲。在它的中間粘有一根直徑約為0.06毫米的空心玻璃絲做的指針。當測桿上下移動時,可動支架把上下位移轉換為左右位移,使扭簧絲縮短或伸長,並帶動指針轉一個角度,從錶盤上即可讀出測桿的位移量。扭簧測微儀的靈敏度很高,常見的分度值有1微米、0.5微米、0.2微米和0.1微米幾種,最高可達0.02微米。示值範圍一般為±50個分度值。機械式比較儀常用在車間和計量室測量工件外徑和厚度等。
2、光學比較儀
利用光學測微儀作為放大指示部件。常見的有立式、臥式和影屏式 3種。
①立式光學比較儀:又稱立式光學計,它是按自準直原理(見自準直儀)設計的。分劃板位於物鏡焦平面上,平面反射鏡按槓桿原理設定。當測桿上下移動時,平面反射鏡繞支點轉動一個很小角度,由平面反射鏡反射回去的光線,經直角稜鏡後成象在分劃板上的刻度尺象發生偏移。偏移量的大小與測桿移動距離成比例。光學測微儀的分度值為 1微米,示值範圍為0.1毫米。立式光學計適宜在計量室使用,測量範圍為0~180毫米,常用於檢定量塊和光滑量規以及測量工件的外徑、厚度。
②臥式光學比較儀:又稱臥式光學計,其工作原理與立式光學計相同,測量範圍為0~500毫米,適用於在計量室測量較大的或在立式光學計上不易定位的工件,如圓盤等,也常利用測孔附屬檔案測量孔徑。
③影屏式光學比較儀:又稱投影光學計,其光學系統與立式光學計相似,但刻度尺影像經投影放大透鏡放大後成象於影屏上。分度值有1微米、0.2微米等。分度值為 0.2微米的光學系統採用多次反射以增大光學槓桿的放大比。此外,還有用光波干涉法測量的接觸式干涉比較儀,其分度值為0.05微米、0.1微米和0.2微米。
3、電學比較儀
常用電感式或電容式測微儀(見長度感測器)作為放大、指示部件。數字顯示的電感式比較儀,其解析度有1微米、0.1微米和0.01微米等幾種。
技術參數
線性電感式測量系統由電源適配器供電
數據輸出:Opto RS232C 或Digimatic
操作顯示器(面板)可鏇轉280°
測力彈簧可更換
下限位置可調
防護等級IP54
具有RANGE、ABS、MAX/MIN、MAX-MIN、TOL、LOCK等功能。
標準配置:電源適配器,橡膠套管及用於預緊設定的扳手
可切換的測量範圍:±1.0mm;±1.4mm
可切換解析度:0.0005/0.001mm;0.005/0.01mm
扭簧比較儀
採用軸向伸長與迴轉角度呈線性關係的扭簧絲作為主要放大元件,將測量桿的直線位移轉換為指針的角位移,用於測量工件尺寸及形位誤差的機械量儀。儀器的主要元件是橫截面為0.01mm×0.25mm的彈簧片,由中間向兩端左右扭曲成的扭簧片。測量時,測桿向上或向下移動,推動槓桿擺動,這時內部的鈕簧片會被拉伸或縮短,引起扭簧片轉動,使指針偏轉。使用時,一般需要安裝在支座上,有時也安裝在專用儀器上使用,如萬能測齒儀。
立式光學比較儀
光學比較儀的主要用途是利用量塊與零件相比較的方法,來測量物體外姓的微差尺寸,是計量室、檢定站,或製造量具工具與精密零件車間常用的工具。它可以檢定五等精度量塊或一級精度柱型量規,對於圓柱形,球形,線形等物體的直徑或板形物體的直徑或板形物體的厚度均能測量,並可以從儀器取下測微光管,適當地裝在工具機上,利用量塊作為控制精密加工尺寸之用。