內容簡介
《JB/T 7369-2011 機械密封端面平面度檢驗方法》按照GB/T 1.1一2009給山的規則起草。
本標準代替JB/T 7369—1994《機械密封端面平面度檢驗方法》,與JB/T 7369一1994相比主要技術變化如下:
一一修改了附錄A。
本標準由中國機械工業聯合會提出。
本標準由全國機械密封標準化技術委員會(SAC/7C491)歸口。
本標準起草單位:合肥通川機械研究院。
本標準主要起草人:李小甌、鄭國運、沈宗沼、李香。
本標準所代替標準的歷次版本發布情況為:
一一TB/T 7369—1994。
圖書目錄
前言
1範圍
2術語和定義
2.1 干涉圖
2.2 干涉光譜帶(光帶)
3檢驗裝置
4檢驗程式
5平面度測定值的判讀
附錄A(資料性附錄)常見干涉光譜帶圖示例
附錄B(資料性附錄)推薦採用的檢驗裝置結構示意簡圖