掃描軌道顯微鏡

掃描軌道顯微鏡

掃描軌道顯微鏡(scan tunneling microscope,STM)是IBM蘇黎世實驗室的Binnig ,Rohrer, Gerber和Weible與1981年發明的。它是一種探測微觀世界物質表面形貌的儀器。Binnig和Rohrer因此而獲得了1986年諾貝爾物理學獎。

STM主要原理是利用了量子力學中的量子隧道效應。

以下提供研發隊伍在研發掃描隧道顯微鏡的問題清單(有興趣的可以自制一台,主要是壓電元件):

1.如何避免可造成針尖與樣品表面不接觸的機械振動?

2.針尖與樣品間的作用力有多大?

4.如何在將樣品表面移向針尖的過程中使樣品穩定而精確的移動?

5.如何避免因溫度變化導致的樣品和針尖的尺寸變化?

6.針尖的形狀應是什麼樣,如何製作?

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