內容簡介
《材料分析技術》是為參加跨學科研究的本科高年級學生和研究生提供的關於現代材料性能分析技術的實用教材。也可以為從事材料研究的工程技術人員提供參考。
作者簡介
作者：（新加坡）Sam Zhang （新加坡）Lin Li （新加坡）Ashok Kumar 譯者：劉東平 王麗梅 牛金海 等
圖書目錄
前言
第一章 緒論
第二章 接觸角在表面分析中的套用
2.1 引言
2.2 接觸角測量
2.2.1 靜態和動態靜滴法
2.2.2 Wilhelmy平板法
2.2.3 封閉氣泡法
2.2.4 毛細管上升法
2.2.5 傾斜基底法
2.3 均勻固體表面能的確定
2.3.1 表面張力組成
2.3.2 物態方程
2.4 研究實例
2.4.1 福克斯（Fowkes）
2.4.2 無定形碳的表面能的研究實例
2.5 小結
參考文獻
第三章 x射線光電子能譜和俄歇電子能譜
3.1 緒論
3.2 原子模型和原子的電子結構
3.2.1 能級
3.2.2 自旋一軌道劈裂
3.2.3 平均自由程
3.3 XPS和AES工作原理
3.3.1 光致電離
3.3.2 俄歇電子的產生
3.3.3 背景消除
3.3.4 XPS的化學位移現象
3.3.5 定量分析
3.3.6 線形
3.3.7 深度分布
3.4 儀器設備
3.4.1 真空系統
3.4.2 X射線源
3.4.3 單色儀
3.4.4 電子束的產生
3.4.5 分析器
3.4.6 電子探測器
3.4.7 通道式電子倍增器
3.4.8 多通道板
3.4.9 樣品
3.4.10 附屬檔案
3.5 XPS技術的常規缺陷
3.5.1 定量精度
3.5.2 分析時間
3.5.3 探測極限
3.5.4 分析區域限制
3.5.5 樣品尺寸限制
3.5.6 檢測造成的樣品畸變
3.5.7 俄歇電子能譜（AES）、X射線光電子能譜（XPS）和能譜儀（EDS）的比較
3.6 XPS套用及實例分析
3.6.1 摻雜效應的測定
3.6.2 化學反應的檢測
3.6.3 化學共價性的檢測
3.6.4 深度分析
3.6.5 譜峰重疊問題
3.6.6 檢測薄膜組成
3.7 AES的套用
3.7.1 材料表面元素的識別
3.7.2 元素濃度和化學計量的檢測
3.7.3 強度與時間關係曲線
3.7.4 化學位移
3.7.5 線形變化
3.7.6 深度分析
3.8 總結
參考文獻
第四章 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡
4.1 引言
4.2 工作原理
4.2.1 掃描隧道顯微鏡
4.2.2 原子力顯微鏡
4.3 儀器
4.3.1 針尖和微懸臂
4.3.2 壓電掃描器
4.3.3 隔振
4.3.4 解析度
4.4 操作模式
4.4.1 掃描隧道顯微鏡
4.4.2 原子力顯微鏡
4.5 STM與AFM的差異
4.6 套用
4.6.1 STM研究
4.6.2 AFM研究
參考文獻
第五章 x射線衍射
5.1 X射線的特性與產生
5.2 晶面和布拉格（Bragg）定律
5.3 粉末衍射法
5.4 薄膜衍射法
5.5 結構測量
5.6 掠射角X射線衍射法
參考文獻
第六章 透射電子顯微鏡
6.1 透射電子顯微鏡基礎
6.2 倒易晶格
6.3 樣本製備
6.4 明場像和暗場像
6.5 電子能量損失能譜
參考文獻
第七章 掃描電子顯微鏡
7.1 掃描電子顯微鏡介紹
7.1.1 歷史背景
7.1.2 掃描電子顯微鏡原理
7.2 電子束與樣品的相互作用
7.2.1 背散射電子
7.2.2 二次電子
7.2.3 特徵x射線和俄歇電子
7.3 掃描電子顯微鏡操作參數
7.3.1 概論
7.3.2 掃描電子顯微鏡特性
7.3.3 掃描電子顯微鏡的操作參數
7.4 套用
7.4.1 掃描電子顯微鏡在合成金剛石薄膜中的套用
7.4.2 掃描電子顯微鏡在電子設備中的套用
7.4.3 掃描電子顯微鏡在合成SiC塗層上的套用
7.4.4 金剛石塗層的wC-Co襯底的掃描電子顯微鏡分析
參考文獻
第八章 色譜分析
8.1 引言
8.2.色譜法基本原理
8.2.1 色譜法的分類
8.2.2 分離模式和機制
8.2.3 分配和保留時間的基本原理
8.3 離子交換色譜法
8.3.1 影響離子交換色譜分離的因素
8.3.2 蛋白質分離
8.4 凝膠滲透色譜法
8.4.1 分子和分子量分布
8.4.2 凝膠滲透色譜的操作
8.4.3 聚合物標準物和校正曲線
8.4.4 樣品的製備
8.4.5 凝膠滲透色譜套用於水溶性的聚合物
第九章 紅外光譜及紫外線-可見光譜
第十章 巨觀和微觀熱分析
第十一章 雷射共焦螢光顯微鏡
英漢辭彙對照
