圖書名：微束分析國家標準彙編
圖書信息：作 者：中國標準出版社第二編輯室 編
出 版 社：中國標準出版社
出版時間：2009-10-1
版 次：1
字 數：1098000
印刷時間：2009-10-1
開 本：大16開
紙 張：膠版紙
印 次：1
I S B N：9787506654722
包 裝：平裝
內容簡介
本標準等同採用ISO 14595：2003《微束分析電子探針分析標準樣品技術條件導則》（英文版）。
為了便於使用，本標準做了下列編輯性修改：
——“本國際標準”一詞改為“本標準”；
——用小數點“.”代替作為小數點的逗號“，”；
——刪除國際標準的前言。
本標準代替GB/T 4930—1993《電子探針分析標準樣品通用技術條件》，因為國際上的發展原標準在技術上已不適用。
本標準對GB/T 4930—1993進行了全面修改：
——標題：將GB/T 4930—1993原標題“電子探針分析標準樣品通用技術條件”改為“微束分析 電子探針分析標準樣品技術條件導則”；
——所有技術條文的項目、內容、結構順序都作了變動，運用的技術方法更先進，更合理；
——標樣材料不均勻性檢測及其數據統計處理改用美國國家標準技術研究院（NIST）和英國國家
物理實驗室（NPL）共同研製的檢測和統計方法；
——將標樣分級的概念引入本標準，使製作和套用標樣的領域擴大，更合理，更全面。
本標準的附錄B為規範性附錄，附錄A、附錄C為資料性附錄。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出並歸口
目錄
GB/T 4930—2008 微束分析 電子探針分析 標準樣品技術條件導則
GB/T 15074—2008 電子探針定量分析方法通則
GB/T 15244—2002 玻璃的電子探針定量分析方法
GB/T 15245—2002 稀土氧化物的電子探針定量分析方法
GB/T 15246—2002 硫化物礦物的電子探針定量分析方法
GB/T 15247—2008 微束分析 電子探針顯微分析 測定鋼中碳含量的校正曲線法
GB/T 15616—2008 金屬及合金的電子探針定量分析方法
GB/T 15617—2002 矽酸鹽礦物的電子探針定量分析方法
GB/T 16594—2008 微米級長度的掃描電鏡測量方法通則
GB/T 17359—1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
GB/T 17360—2008 鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法
GB/T 17361—1998 沉積岩中自生粘土礦物掃描電子顯微鏡及X射線能譜鑑定方法
GB/T 17362—2008 黃金製品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
GB/T 173631—2009 黃金製品金含量無損測定方法 第1部分：電子探針微分析法
GB/T 173632—2009 黃金製品金含量無損測定方法 第2部分：綜合測定方法
GB/T 17365—1998 金屬與合金電子探針定量分析樣品的製備方法
GB/T 17366—1998 礦物岩石的電子探針分析試樣的製備方法
GB/T 17506—2008 船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針分析方法
GB/T 17507—2008 透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標樣的通用技術條件
GB/T 17722—1999 金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法
GB/T 18295—2001 油氣儲層砂岩樣品掃描電子顯微鏡分析方法
GB/T 18735—2002 分析電鏡（AEM/EDS）納米薄標樣通用規範
GB/T 18873—2008 生物薄試樣的透射電子顯微鏡一X射線能譜定量分析通則
GB/T 18907—2002 透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法
GB/T 19499—2004 表面化學分析數據傳輸格式
GB/T 19500—2004 X射線光電子能譜分析方法通則
GB/T 19501—2004 電子背散射衍射分析方法通則
GB/T 19502—2004 表面化學分析 輝光放電發射光譜方法通則
GB/T 20175—2006 表面化學分析 濺射深度剖析 用層狀膜係為參考物質的最佳化方法
GB/T 20176—2006 表面化學分析 二次離子質譜 用均勻摻雜物質測定矽中硼的原子濃度
GB/T 20307—2006 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則
GB/T 20724—2006 薄晶體厚度的會聚束電子衍射測定方法
GB/T 20725—2006 波譜法定性點分析電子探針顯微分析導則
GB/T 20726—2006 半導體探測器X射線能譜儀通則
GB/T 21006—2007 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標的線性
GB/T 21007—2007 表面化學分析 信息格式
GB/T 21636—2008 微束分析 電子探針顯微分析（EPMA） 術語
GB/T 21637—2008 冠狀病毒透射電子顯微鏡形態學鑑定方法
68/T 21638—2008 鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析方法通則
GB/T 22461—2008 表面化學分析 辭彙
GB/T 22462—2008 鋼表面納米、亞微米尺度薄膜 元素深度分布的定量測定 輝光放電原子發射光譜法
GB/T 22571—2008 表面化學分析 X射線光電子能譜儀 能量標尺的校準
GB/T 22572—2008 表面化學分析 二次離子質譜 用多δ層參考物質評估深度分辨參數的方法
