概述
平整度檢驗是專門用於檢測各種IC晶片針腳及其平整度(水平直線度、共面度)、間隙、針腳寬度等平整度檢驗簡單設定後,即可自動識別、檢測,無須人員操作。平整度檢驗儀圖像清晰直觀,可以方便快速準確的檢驗產品的平面度,明顯提高工作效率和產品質量!平整度檢驗在檢測標定平面度時能達到0.01mm以上的精度。可根據檢測要求設定平整度誤差範圍。對不符合要求的工件檢測後輸出控制信號,可用於剔除不合格品。主要功能
檢測晶片針腳的個數;可測量晶片針腳的多個位置的幾何尺寸,包括pitch間隔、寬度、高度等;
檢測針腳的共線度等平整度指標;
系統檢測到質量問題時,能發出報警信號,並輸出控制信號;
可對檢查出的所有廢品對應的圖像能夠存儲和查看;
系統有自學習功能,且學習過程操作簡單;
系統可通過RS232接口或乙太網接收上位機控制信號