簡介
容抗產生原因
電容器接到交流電源時，實際上自由電荷也沒有通過兩極間的絕緣介質，只是由於兩極板間的電壓在變化，當電壓升高時，電荷向電容器的極板上聚集，形成充電電流；當電壓降低時，電荷離開極板，形成放電電流。電容器交替進行充電和放電，電路中就有了電流，表現為交流“通過”了電容器。問題是在給電容器充電的同時，積累在兩極板上的電荷又會排斥將要到達兩極板的電荷，因此對交變電流也有阻礙作用。
影響因素
電容器的電容越大，表明電容器儲存電荷的能力越大，在電壓一定的條件下，單位時間內電路中充、放電移動的電荷量越大，電流越大，所以電容對交變電流的阻礙作用越小，即容抗越小；在交變電流的電壓一定時，交變電流的頻率越高，電路中充、放電越頻繁，單位時間內電荷移動速率越大，電流越大，電容對交變電流的阻礙作用越小，即容抗越小。表達式：Xc=1/(2πfC)
測量方法
萬用表測電容器：用電阻檔，根據電容容量選擇適當的量程，並注意測量時對於電解電容黑表筆要接電容正極。①、估測微法級電容容量的大小：可憑經驗或參照相同容量的標準電容，根據指針擺動的最大幅度來判定。所參照的電容不必耐壓值也一樣，只要容量相同即可，例如估測一個100μF/250V的電容可用一個100μF/25V的電容來參照，只要它們指針擺動最大幅度一樣，即可斷定容量一樣。②、估測皮法級電容容量大小：要用R×10kΩ檔，但只能測到1000pF以上的電容。對1000pF或稍大一點的電容，只要錶針稍有擺動，即可認為容量夠了。③、測電容是否漏電：對一千微法以上的電容，可先用R×10Ω檔將其快速充電，並初步估測電容容量，然後改到R×1kΩ檔繼續測一會兒，這時指針不應回返，而應停在或十分接近∞處，否則就是有漏電現象。對一些幾十微法以下的定時或振盪電容（比如彩電開關電源的振盪電容），對其漏電特性要求非常高，只要稍有漏電就不能用，這時可在R×1kΩ檔充完電後再改用R×10kΩ檔繼續測量，同樣錶針應停在∞處而不應回返。
其他說明
①在純電容電路中，接通電源時，電源的電壓使導線中自由電荷向某一方向作定向運動，由於電容器兩極板上在此過程中電荷積累而產生電勢差，因而反抗電荷的繼續運動，這樣就形成容抗。
②對於帶同樣電量的電容器來說，電容越大，兩板的電勢差越小，所以容抗和電容成反比。交流電頻率越高，充、放電進行得越快，容抗就越小。所、以容抗和頻率也成反比。即Xc=1/ωC。
③在理想條件下，當ω=0，因為Xc=1/ωC，則Xc趨向無窮大，這說明直流電將無法通過電容，所以電容器的作用是“通交，隔直”。在交流電路中，常套用容抗的頻率特性來“通高頻交流，阻低頻交流”。
④在純電容的電路中，電容器極板上的電量和電壓的關係式是q=CU。同時在△t時間內電容器極板上電荷變化為△q所以電路中電流為I=△q/△t，在電容電路中電容的基本規律是I=C·△u/△t。由於正弦交流電在一周期內的電壓作周期變化，所以電壓的變化率（△u/△t）是在改變的。由此得出，當電壓為零時，其電壓變化率（△u/△t）為最大，電路中電流也最大。反之，當電壓為最大值時，其電壓變化率（△u/△t）為零，電流也為零。所以電路中電流的相位超前於電容兩端電壓的π/2。如圖所示。
⑤在純電容電路中的電容不消耗電能。因為在充電過程中，電容器極板間建立了電場將電源的電能轉換成電場能，在放電過程中，電場逐漸消失，儲藏的電場能又轉換為電能返回給電源。所以純電容電路的有功功率為零，對外不作功，而無功功率的最大值QL=(I^2)Xc。
是否會消耗電能
電流通過電容時，當電容兩端電壓增大，電能轉變成電場能，當電容兩端電壓減小時，電容中的電場能又轉變成電能。所以，在交流電通過純電感或純電容時，電能並沒有減少，而是在電能—磁場能，或電能—電場能之間不停地轉化。
電容器在電路中的作用
(l)通交流、阻直流:這是針對兩種不同類型的電流而言的,當電容器與直流電源相連線時,除了接通的瞬間因電容器充電而有電流外,一旦充電完畢,電路中就沒有電流了。而電容器與交流電源相連線,由於電容器要反覆不斷的充電和放電,電路中就有持續的交變電流。
(2)通高頻、阻低頻:這是針對不同頻率的交變電流而言的,因為交變電流的頻率越低,電流變化越慢,容抗就越大,對電流的阻礙就越大。
電感線圈對電路的影響
(l)對電流的影響:對於同一個電路,若所加電壓不變,交變電流的頻率越低,電容器的阻礙作用就越大,電路中的電流就減小。
(2)對電壓的影響:由於電容器在交變電流中的作用類似於電阻,故其也要分壓。容抗越大,分壓越多。
