相關詞條
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場發射環境掃描電鏡
場發射環境掃描電鏡，適用於納粹材料精細形貌的觀察，可薛利高質量高分辨二次電子圖像。該儀器配備的X射線能譜儀可對塊狀樣品做定性及半定量分析。
簡介 主要用途 -
掃描電鏡
掃描電鏡（SEM），全稱掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope）。是一種利用電子束掃描樣品表面從而獲得樣品信息的電子顯...
簡介 基本結構 工作原理 性能參數 主要套用 -
場發射槍掃描電子顯微鏡
場發射槍掃描電子顯微鏡適用於金屬、陶瓷、半導體、礦物、生物、高分子、複合材料和納米級一維、二維和三維材料的表面形貌進行觀察（二次電子像、背散射電子像）；...
儀器類別 指標信息 場發射掃描電子顯微鏡 相關研究 -
場發射環境掃描電子顯微鏡
Quanta 200 FEG場發射環境掃描電子顯微鏡綜合場發射電鏡高分辨和ESEM環境掃描電鏡適合樣品多樣性的優勢，可對各種各樣的樣品進行靜態和動態觀察...
主要用途 指標信息 -
台式場發射掃描電子顯微鏡
台式場發射掃描電子顯微鏡（Desktop FE-SEM）於2018年在荷蘭誕生，是採用場發射電子源，放置在普通檯面上的場發射掃描電子顯微鏡；台式場發射掃...
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散射束錐角
：分析掃描電鏡和X射線能譜儀、X射線波譜儀和電子探針儀、場發射槍掃描電鏡和...)透射電鏡、低電壓(～1kV)掃描電鏡；有以電子槍類型區分的，如場發射槍...，中等電壓電鏡，120kV,100kV分析電鏡，場發射槍掃描透射電鏡及能量...
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掃描電子顯微鏡
掃描電鏡採用六硼化鑭（LaB6）或場發射電子槍，使二次電子像的解析度達到2nm...擴散泵的組合可以滿足配置鎢槍的SEM的真空要求，但對於裝置了場致發射槍或六...簡介 掃描電子顯微鏡 掃描電鏡（SEM）是介於透射電鏡和光學顯微鏡之間...
簡介 發展歷史 工作原理 原理結構 主要性能參數 -
電子顯微鏡
。它能發射並形成速度均勻的電子束，所以加速電壓的穩定度要求不低於萬分之一...用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式...或電子能譜儀相結合，構成電子微探針，用於物質成分分析；發射式電子顯微鏡用於...
基本簡介 組成 種類介紹 參數 缺點 -
成像過程
掃描電鏡成像過程成像原理 成像過程 掃描電鏡的成像原理(如圖3-6所示...的電子學過程。 [1] 成像過程掃描電鏡的成像過程是通過信號處理和成像...，能量有損失，它們的能量較低(0～50 eV)，其發射深度為樣品表面幾...
掃描電鏡成像過程 傳統相機成像過程 數位相機成像過程 區別 -
蔡司顯微鏡
)·第一台場發射掃描電鏡(1990)·第一台帶有成像濾波器的透射電鏡(1992)·第一台具有Koehler照明的200kV 場發射透射電鏡...離子束技術和基於電子束的分析技術的加入、可為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場發射...
企業剖析 發展歷程 CARL ZEISS
