內容簡介
《半導體薄膜光譜學》內容簡介:光譜技術是研究半導體薄膜材料表面特性、界面特性與成膜質量的重要工具。《半導體薄膜光譜學》主要介紹了半導體薄膜光譜學的理論基礎和實驗基礎知識,從實驗原理、實驗裝置、實驗結果分析等方面詳細介紹了拉曼光譜,光致發光和光調製反射幾種實驗方法,並結合一系列實驗結果,具體分析了CuGase:薄膜的結構特性與光學特性。使讀者能夠全面、系統地了解半導體薄膜光譜技術的測試方法和分析方法。《半導體薄膜光譜學》內容新穎,深入淺出,有助於高年級本科生、研究生和科研人員在半導體薄膜光譜學學習研究中掌握基本原理和方法。《半導體薄膜光譜學》可作為教學和科研的參考書。
圖書目錄
前言
第1章 半導體薄膜及其生長方法
第2章 電磁輻射理論
第3章 光譜學主要儀器
第4章 光學表征方法
第5章 CuGase2薄膜結構中的光學特性研究
第6章 拉曼光譜的擴展套用
參考文獻
附錄1 基本物理常量和單位換算表
附錄2 專有名詞英漢對照
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