封裝測試
半導體生產流程由晶圓製造、晶圓測試、晶片封裝和封裝後測試組成。
所謂封裝測試其實就是封裝後測試,把已製造完成的半導體元件進行結構及電氣功能的確認，以保證半導體元件符合系統的需求的過程稱為封裝後測試。
也可稱為終段測試Final Test.在此之前，由於封裝成本較高整片晶元還必須經過針測Probe Test。
相關詞條
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半導體封裝測試
半導體生產流程由晶圓製造、晶圓測試、晶片封裝和封裝後測試組成。半導體封裝測試是指將通過測試的晶圓按照產品型號及功能需求加工得到獨立晶片的過程。
過程 形式 高級封裝實現封裝面積最小化 表面貼片封裝降低PCB設計難度 -
顆粒封裝
顆粒封裝其實就是記憶體晶片所採用的封裝技術類型，封裝就是將記憶體晶片包裹起來，以避免晶片與外界接觸，防止外界對晶片的損害。
發展歷程 優點和缺點 參考資料 -
晶片封裝測試
DIP的別稱(見DIP)。 雙側引腳帶載封裝。 晶片上引線封裝。
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封裝技術
所謂“封裝技術”是一種將積體電路用絕緣的塑膠或陶瓷材料打包的技術。以CPU為例，實際看到的體積和外觀並不是真正的CPU核心的大小和面貌，而是CPU核心等...
技術簡介 注意事項 主要封裝技術 技術發展 封裝形式 -
2011中國國際電子封裝測試展覽會
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基本信息 展會信息 展品範圍 主辦信息 -
光電子器件微波封裝和測試
《光電子器件微波封裝和測試》是2011年科學出版社出版的圖書，作者是祝寧華。
圖書信息 內容簡介 作者簡介 目錄 -
積體電路封裝
積體電路封裝在電子學金字塔中的位置既是金字塔的尖頂又是金字塔的基座。說它同時處在這兩種位置都有很充分的根據。從電子元器件（如電晶體）的密度這個角度上來說...
概述 作用 變革 標準依據 發展現狀 -
封裝形式
CPU封裝是採用特定的材料將CPU晶片或CPU模組固化在其中以防損壞的保護措施，一般必須在封裝後CPU才能交付用戶使用。CPU的封裝方式取決於CPU安裝...
基本信息 具體介紹 各種封裝形式
