【克爾磁光效應的發現】
英文名稱：Magneto-opticalKerreffect克爾磁光效應 入射的線偏振光在已磁化的物質表面反射時，振動面發生鏇轉的現象，1876年由J.克爾發現。
【克爾磁光效應的原理】
克爾磁光效應分極向、縱向和橫向三種，分別對應物質的磁化強度與反射表面垂直、與表面和入射面平行、與表面平行而與入射面垂直三種情形。極向和縱向克爾磁光效應的磁致鏇光都正比於磁化強度，一般極向的效應最強，縱向次之，橫向則無明顯的磁致鏇光。【克爾磁光效應的套用】
克爾磁光效應的最重要套用是觀察鐵磁體的磁疇（見磁介質、鐵磁性）。不同的磁疇有不同的自發磁化方向，引起反射光振動面的不同鏇轉，通過偏振片觀察反射光時，將觀察到與各磁疇對應的明暗不同的區域。用此方法還可對磁疇變化作動態觀察。【磁光克爾效應測量磁各向異性】
實驗目的利用磁光克爾效應測量磁性薄膜的磁信號和磁滯回線，確定磁性薄膜的磁各向異性隨薄膜厚度的影響。
研究鐵磁（FM)/反鐵磁（AFM)雙層膜的交換偏置（Exange bias）現象。
實驗原理
1 表面磁光克爾效應（surface magneto-optic Kerr effect,SMOKE)
當線偏振光入射到不透明樣品表面時,如果樣品是各向異性的,反射光將變成橢圓偏振光且偏振方向會發生偏轉.而如果此時樣品為鐵磁狀態,還會導致反射光偏振面相對於入射光的偏振面額外再轉過一小角度,這個小角度稱為克爾鏇轉角θK,即橢圓長軸和參考軸間的夾角,如圖1. 同時,一般而言, 由於樣品對p偏振光和s偏振光的吸收率不同,即使樣品處於非磁狀態,反射光的橢偏率也要發生變化,而鐵磁性會導致橢偏率有一附加的變化,這個變化稱為克爾橢偏率εK ,即橢圓長短軸之比.
按照磁場相對入射面的配置狀態不同, 表面磁光克爾效應可以分為3種：
a. 極向克爾效應,其磁化方向垂直於樣品表面並且平行於入射面;
b. 縱向克爾效應, 其磁化方向在樣品膜面內,並且平行於入射面;
c. 橫向克爾效應,其磁化方向在樣品膜面內,並且垂直於入射面.
2 交換偏置（Exange Bias）
鐵磁(FM) / 反鐵磁(AFM) 體系(如雙層膜) 在外磁場中從高於反鐵磁奈爾溫度冷卻到低溫後,鐵磁層的磁滯回線將沿磁場方向偏離原點,其偏離量被稱為交換偏置場,通常記作HE,同時伴隨著矯頑力的增加,這一現象被稱之為交換偏置.
