光電子能譜儀
簡單介紹 主要用途:1.XPS測定 2.XPS成象 3.深度剖析 4.微區分析 5.角分辨XPS 可套用於各種固體材料表面(界面)的元素及化學態的定性、半定量、結構分析及化學鍵研究。儀器類別:03030707 /儀器儀表 /成份分析儀器
指標信息:空間分辨(μ) 能量分辨(eV) 靈敏度(CPS) 大面積 1.0 4×106 大面積 0.5 4×105 30 1.0 8×103 30 0.5 2×103 20 1.4 2.2×103
附屬檔案信息:1.X-射線單色器 2.氬離刻蝕槍 3.電子中和槍 4.樣品加熱裝置(1000k) 5.五軸向樣品旋轉裝置, 中國科學研究院化學研究所電子能譜實驗室已從事該領域工作二十多年,積累了相當豐富的經驗,完成中國科學院科研課題、國家重大科研課題及國家自然科學基金等項目多項,並為所內外提供XPS分析測試服務,年均實驗機時大於1200小時。