中文名稱
偏光儀
英文名稱
Polariscope
概述
是一種操作簡便、結構簡單的寶石鑑定儀器，主要用來檢測寶石的光性，還可以判斷寶石的軸性、光性符號及檢查寶石的多色性。
偏光鏡結構及原理
由上下偏光片和光源組成。此外還可配有玻璃載物台、干涉球和凸透鏡。光源一般採用普通白熾燈，有時在光源箱前側開一個狹窄的視窗，也可以為折射儀提供光源。偏光鏡在設計時通常採用下偏光片固定，上偏光片可以轉動，從而調整偏光方向。
當自然光通過下偏光片時，即產生偏光，若上下偏光方向平行，來自下偏光片的偏振光全部通過，則視域亮度最大；若上下偏光方向垂直，來自下偏光片的偏振光全部被阻擋，此時視域最暗，即產生消光。
正交位置偏振片偏光鏡的使用方法
1.清潔寶石，觀察寶石是否透明。
2.打開偏光鏡電源開關，鏇轉上偏光片直至消光位置。
3.將寶石放在下偏光片上方的載物台上，在水平方向上轉動寶石360°，觀察寶石明暗變化。
套用及現象解釋
1、均質體當自然光通過下偏光片透過寶石時，光的振動方向不發生變化，仍為偏振光。通過上偏光片後，光全部被阻擋。因此轉動寶石在視域中呈全暗（消光）。
2、非均質體晶體中除等軸晶系寶石外，都為非均質體。當待測寶石為非均質體時，在正交偏光鏡下，轉動寶石，會出現四明四暗現象。這是因為非均質體具有將光分解成振動方向相互垂直的兩束偏光的性質（光
雙折射寶石在上下偏光的共同作用下，由消光與干涉效應綜合作用而產生的特殊圖案，成為干涉圖。根據干涉圖的形狀可以判斷寶石的軸性。
一軸晶干涉圖為一個黑十字加上圍繞十字的多圈干涉色色圈。
二軸晶干涉圖分為兩種，即雙光軸干涉圖和單光軸干涉圖。3、多晶質寶石
多晶非均質集合體寶石在正交偏光鏡下，轉動360°，寶石在視域中是明亮的。多晶集合體中大量晶體雜亂排列，不同晶體將光分解後，產生的偏振光振動方向也雜亂無章，各個方向都有，近似自然光。聚片雙晶發育的寶石情況類似。
多晶均質集合體寶石在正交偏光鏡下，轉動360°，寶石在視域中全暗。
（1）異常消光
許多均質體寶石在正交偏光下出現不規則的明暗變化，這種現象稱為異常消光，由於在均質體寶石中出現異常雙折射造成的。
（2）全暗假象
有些高折射寶石如鑽石、鋯石、CZ等，若切工良好，台面向下放置時幾乎沒有光線能夠穿過，那么無論寶石為均質體或非均質體，均會呈現全暗的假象。
（3）其他假象
某些透明的單晶寶石有較多的明顯的裂隙或含有大量的包體，裂隙和包體影響光的傳播，難以判斷光性。
局限性
1、不適用於不透明的寶石。
2、含有大量的裂隙或包體的透明寶石，測試的可靠性較差。
