低氣壓試驗

低氣壓所依據的標準有：GB2421-1989《電工電子產品基本環境試驗規程總則》GB/T2423.25-1992《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》GB/T2423.26-1992《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/BM ：高溫/低氣壓綜合試驗方法》GB2423.27-2005《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法》GB2423.27-2005《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法》GB/T2424.15-1992《電工電子產品基本環境試驗規程溫度/低氣壓綜合試驗導則》GB 150.2-1986軍用設備環境試驗方法低氣壓（高度）試驗.目前能進行低氣壓試驗的實驗室有一通檢測實驗室、環境可靠性與電磁兼容試驗服務中心、航天環境可靠性試驗與檢測中心、航天三部等。

低氣壓試驗就是將試驗樣品放入試驗箱(室)，然後將箱(室)內氣壓降低到有關標準規定的值，並保持規定持續時間的
試驗。其目的主要用來確定元件、設備或其他產品在在貯存、運輸和使用中對低氣壓環境的適應性。
低氣壓所依據的標準有：
GB2421-1989《電工電子產品基本環境試驗規程總則》
GB/T2423.25-1992《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》
GB/T2423.26-1992《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/BM ：高溫/低氣壓綜合試驗方法》
GB2423.27-2005《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法》
GB2423.27-2005《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法》
GB/T2424.15-1992《電工電子產品基本環境試驗規程溫度/低氣壓綜合試驗導則》
GB T 2423.21-1991 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗M 低氣壓試驗方法
GJB 150.2-1986軍用設備環境試驗方法　低氣壓（高度）試驗.
目前能進行低氣壓試驗的實驗室有一通檢測實驗室、環境可靠性與電磁兼容試驗服務中心、航天環境可靠性試驗與檢測中心、航天三部等。