X-光磁性二色性（英文：X-光磁性二色性）（1）：材料在磁場中對左鏇圓極化光和右鏇圓極化光吸收曲線之差，稱為-X光磁性圓二色性；仔細分析它，可以得到材料的原子如自鏇和軌道磁矩等的信息。
有幾種測量磁性材料磁性的技術；但大都是測量材料總磁化強度隨磁場的變化的。不能分辨材料或多層膜中不同原子對磁性的貢獻。對小樣品，如納米結構，也要求高靈敏度。能結合這二種性質的，就是X-光磁性圓二色性的方法。
1975年愛斯凱（Erskine）和斯特恩（Stern）預言，用圓極化光吸收能補充吸收過程起始狀態的磁性信息；1985年韜萊（Thole）顯示，磁性材料吸收邊線的形狀和磁化向量及X-光極化向量間的角度有關。韜萊和他的同事總結出總吸收和-X光磁性圓二色性譜的總規律，允許直接得到材料的原子軌道和自鏇矩的數值。此後，X-光磁性圓二色性在磁性研究中得到大量套用（2，3）。
參考文獻
（1）J.L.Erskine et E.A. Stem Phys.Rev.B 12,5016(1975)
(2) B.T. Thole et al.,Phys. Rev.Lett.68.1943(1992)
(3) P. Carra et al.,Phys. Rev.Lett.70,694(1993)
