利用X射線譜中的特徵峰高於連續的軔致輻射譜,調整陰極偏壓,加上Cu等濾光片,從而獲得較好的準單色X射線
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X射線分析
X射線分析(X-ray Analysis)是指以X射線為輻射源的分析方法統稱。主要包括X射線吸收法、X射線螢光法、X射線衍射法等。其中用於成分分析的X射...
射線分析簡介 X射線 方法 -
聚焦單色器
聚焦單色器包括X射線輻射源(110)、和布置在X射線輻射源(110)和試樣(130)之間的激勵光學器件(120)、以便收集來自所述輻射源的X射線輻射，並...
簡介 計算 參考資料 -
X射線衍射分析
X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。
簡介 理論發展 詳細內容 套用實例 -
X射線金相學
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簡介 -
薄膜結構X射線表征
《薄膜結構X射線表征》的作者是麥振洪，該書由科學出版社於2007年7月發行出版。該書系統的系統介紹套用X射線衍射和散射技術表征薄膜微結構的多種基本實驗裝...
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X衍射線
式中λ為X射線的波長，n X射線衍射在金屬學中的套用 X射線衍射在金屬中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。
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x射線光電子能譜
X射線光電子能譜技術（XPS）是電子材料 與元器件顯微分析中的一種先進分析技術，而且是和俄歇電子能譜技術（AES）常常配合使用的分析技術。由於它可以比俄...
簡介 發展簡史 基本原理 XPS特點 XPS系統組件 -
近代X射線多晶體衍射
《近代X射線多晶體衍射》是2004年化學工業出版社出版的圖書，作者是馬禮敦。
簡介 目錄 -
X射線衍射測試分析基礎教程
X射線衍射測試分析基礎教程(十二五普通高等教育本科規劃教材)
內容簡介 目錄
