RFID測試
以往的RFID系統測試的測試對象是RFID系統而非系統中的每種設備(讀寫器、標籤、天線),因此可能產生一種後果,即系統中任何一部分的改變都會使測試結果發生變化,例如更換或增加一種性能較差的RFID標籤後,RFID系統的識別範圍就將根據新RFID標籤的性能變化,而讀速率也將受到影響,原有的系統測試結果無法作為參考。而為了全面獲得RFID系統整體的性能參數,只能對不同設備的組合一一進行測試,這將對測試的工作量造成極大的負擔。因此需要為系統中每種設備的獨立性能指標進行測試,以此更加準確地表現出設備的性能指標,節省測試的時間和成本,獲得更有價值的RFID產品性能資料庫。
標準簡介
超高頻RFID 標籤性能測試規範主要包括ISO/IEC 18046-3 Test Methods for Tag Performance (標準原文見ISO官網Standards catalogue>Browse by ICS>35>35.040>35.040.50>ISO/IEC 18046-3:2012)、EPCglobal Class1 Generation2 - UHF RFID Tag Performance (標準原文見GS1官網>Standards>EPC/RFID>Test Centres>Approved Test Methods)、GS1 Tagged-Item Performance Protocol (TIPP) Testing Methodology (標準原文見GS1官網>Standards>EPC/RFID>Tagged-Item Performance Protocol (TIPP) Guideline)。其中ISO 18046-3是ISO 18000全系列通信協定的性能測試規範,涵蓋超高頻ISO 18000-63通信協定。EPCglobal Tag Performance 是EPCglobal Class1 Generation2 通信協定的性能測試規範(Approved Test Methods)。GS1 TIPP 是EPCglobal Class1 Generation2 通信協定的套用指導規範(Implementation Guidelines),主要面向於服裝行業。
測試項目
在靜態性能測試中ISO測試標準的測試單位為場強(V/m),EPC測試標測試單位為距離(m),GS1 TIPP測試標準測試單位為功率(dBm),這三類測試數據可採用理論公式進行換算。
測試項目 | ISO 18046-3 | EPCglobal Tag Performance | GS1 TIPP |
靜態性能測試 | 識別電場強度閾值和頻率峰值 | 識讀距離 | 識讀靈敏度(頻率曲線) |
頻率容限 | |||
讀電場強度閾值 | 無 | 無 | |
寫電場強度閾值 | 寫距離 | 無 | |
無 | 寫時間 | 無 | |
靈敏度降級 | 方向容限 | 識讀靈敏度(角度曲線) | |
最大工作電場強度 | 無 | 無 | |
生存電場強度 | 無 | 無 | |
雷達散射截面變化率 | 反向散射距離 | 反向散射功率 | |
干擾抑制 | 干擾容限 | 無 | |
無 | 臨近標籤測試 | 無 | |
動態性能測試 | 最大識別變化率 | 無 | 無 |
最大寫變化率 | 無 | 無 |