適用範圍
FDQ-0301雷射顆粒分布測量儀是以物理學上富朗和菲衍射（Fraunhoferdiffraction）和米氏散射(Miescattering)為理論基礎。此理論可以簡單理解為：沿直線傳播的平行雷射束，在傳播過程中遇到顆粒的遮擋後，發生了衍射和散射現象，並且大顆粒光散射角小，小顆粒光散射角大。見圖1-1為單個顆粒形成的衍射圖案，顆粒直徑越大，中心亮環越小，顆粒直徑越小，中心亮環越大。使用光電探測陣列在不同角度上接收光能，對於相應的角度，其光能是對應直徑的顆粒集合發生衍射（散射）造成的，相應其它角度上光能的強弱也就反應了對應直徑顆粒在整個顆粒集合中占有的比例，根據在不同角度上接收的散射光強弱，就可以反演出樣品的顆粒分布及各粒級間相對含量。
功能特點
1.多達82個採樣通道，提高了測試結果的解析度；全部光電器件製作在同一個矽片上，保證了光電陣列的使用壽命；交叉扇形排列方式，加大了受光面積，提高了靈敏度；
2.微量進樣方式，採用蠕動泵的全自動循環進樣方式，採用虹吸泵自動循環進樣方式，滿足不同客戶的測試需求,儀器標配MS-01微量進樣裝置；
3.全量程單鏡頭測量，所有的光學組件都固定在加固的基座上，光學系統出廠前緊固好，使儀器性能更加穩定；
4.採用進口半導體雷射器，具有使用壽命長，光學參數穩定，不怕振動等一系列優點，連續工作時間長達24個小時，滿足用戶連續大負荷測試的要求。
技術參數
1、測試範圍（um）：0.15-400；（0.4-1100、0.1-450、0.25-650、0.4-1100）
2、重複性：<1%，再現性：<2%，系統誤差：<2%；
3、雷射發生器：半導體雷射器λ=650nm,功率>3mw；
4、光學系統：平行光束；
5、軟體運行環境：Windows95/98/xpista；
6、計算機接口：USB2.0；
7、電源電壓：85-264V/50HZ/60HZ；
8、測試原理：雷射散射；
9、採樣通道：82。
適用領域
各種非金屬粉：如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、矽灰石、水鎂石、重晶石、雲母粉、膨潤土、硅藻土、黏土等；
各種金屬粉：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等；
其他粉體：如催化劑、水泥、磨料、醫藥、農藥、食品、塗料、染料、螢光粉、河流泥沙、陶瓷原料、化工原料、各種乳濁液等。
