圖書簡介
計算機輔助測試技術導論作者:劉鳳新/黃玉金/潘小莉
出版社:電子工業出版社
定價:14
頁數:140
出版日期:2004-2-1
版次:
開本:16開
包裝:精裝
簡介:隨著電子技術、通令技術、計算機技術的飛速發展，各種測試技術也得到了飛速的發展。在計算機控制下的測試過程變得更加的高效、簡捷、靈活。這種計算機控制下對各種電量和非電量進行測量、數據處理、設備控制以及結果輸出的系統稱為自動測試系統。所採用的技術稱為計算機輔助測試技術（簡稱CAT）。
本書主要介紹了構成自動測試系統的相關內容，有兩大部分組成。第一部分內容主要包括通用接口匯流排（GPIB）分析，儀器通用匯流排接口設計，進而介紹如何用帶GPIB的儀器構成自動測試系統。第二部分內容重點討論計算機對模擬電路的控制與測試，以模擬積體電路測試系統TM7為例，主要討論了自動測試系統的硬體層次結構，測試儀的接口及控制，測試儀高級測試語言，適配器原理，測試系統軟體設計等內容。本書還對USB匯流排及VXI技術做了簡單的介紹。
本書內容新穎，實用性強，可作為計算機硬體、檢測與儀表、電子信息工程等相關專業大學本科高年級學生的選修課或研究生教材，也可供相關領域的工程技術人員參考。
目錄
第一部分 用現有儀器構成自動測試系統
第1章 自動測試系統概述
1.1 自動測試系統的組成
1.2 自動測試系統的分類
1.3 現代自動測試系統的特點
第2章 通用接口匯流排概述
2.1 概述
2.2 接口基本性能及儀器功能
2.3 匯流排結構
2.4 接口基本特性
第3章 通用接口匯流排協定編碼
3.1 信息分類
3.2 接口信息及編碼
3.3 設備信息及編碼
第4章 接口功能
4.1 清除功能（DC）
4.2 設備觸發功能（DT）
4.3 聽功能（L）
4.4 講功能（T）
4.5 源功能（SH）
4.6 受功能（AH）
4.7 服務請求功能（SR）
4.8 遠程/本地功能（RL）
4.9 控者功能（C）
第5章 USB及虛擬儀器
5.1 USB匯流排協定簡介
5.2 基本結構簡介
5.3 USB協定總覽
5.4 連線特性
5.5 VXI概念
第二部分 模擬積體電路測試系統
第6章 CAT概述及TM7簡介
6.1 CAT概述
6.2 TM7簡介
第7章 測試語言簡介
7.1 BASIC語法定義
7.2 TBASIC命令
7.3 TBASIC的語句
7.4 測試用的新增函式
7.5 其他語句組
7.6 數字測試擴展語句
7.7 如何使用TBASIC7
7.8 測試語言的深層次討論
第8章 TM7的硬體
8.1 TM7的硬體系統結構
8.2 硬體的層次結構（三層結構）
8.3 TM7的接口控制電路的幾個問題
8.4 TM7的數字電路
8.5 模擬電路
第9章 基本種類IC的測試
9.1 運算放大器的測試
9.2 集成三端穩壓器的測試
9.3 DAC的測試
9.4 ADC的測試及適配器的工作原理
第10章 測試儀系統軟體的開發及儀器自檢和校準
10.1 系統軟體的結構
10.2 自檢原理及算法
10.3 校準
10.4 TM7的校準和模擬量自檢方法
附錄A TBASIC命令表
附錄B 函式表
附錄C 測試語句表
附錄D TBASIC錯誤信息表
英文縮略詞英漢對照表
參考文獻
