內容介紹《納米數字積體電路老化效應:分析、預測及最佳化》的主要內容涉及一種公認的納米工藝下較為嚴重的電晶體老化效應——負偏置溫度不穩定性（NBTI）。匯集了兩位作者在數字積體電路可靠性設計方面的部分研究212作，全面論述了NBTI效應的建模、分析預測和最佳化方法。根據NBTI效應產生的物理機制，從矽前分析、矽後線上預測及最佳化3個方面介紹了作者在這一領域所取得的自主創新的成果和結論。
