簡介
儀器名稱稀有氣體同位素質譜儀主要用途常規K-Ar,Ar-Ar測年及惰性氣體He等的分析。適用於地質年代測定、地質及火山事件確定，以及海水、有機物及岩體中惰性氣體He等的分析。主要研究方向：構造年代學、地質事件精細定年、Ar-Ar微區分析、惰性氣體分析。主要套用於科研、教學以及一定量的生產單位樣品的測定。
儀器示例
儀器類別： 03030701 /儀器儀表 /成份分析儀器 /同位素質譜計（儀）指標信息： 主要規格及技術指標：主機MM5400稀有氣體同位素質譜計是一台靜態磁偏轉質譜計，包括有法拉第接收器和電子倍增器（帶離子計數器）、數據處理系統和軟體及相關的電控系統。樣品處理系統包括電阻爐、手動淨化樣品處理管線。 性能指標：解析度-5%峰高處，234（高法拉第）、679(倍增器），分析和計算方法由計算機按設計程式自動完成。靜態真空水平6.37≌10-13，Ar，捕獲電流為200μA，靈敏度高於1×10-3Amps/Torr。
附屬檔案信息： 循環水系統，預備購置與主機匹配的雷射熔樣系統。
套用範圍：MM5400稀有氣體同位素質譜儀適用於地質年代測定（如構造變形、火山噴發、變質作用、沉積作用、岩體冷卻、山體抬升、盆地沉降），以及海水、有機物及岩體中惰性氣體He等的分析。
套用對象：主要套用於地質科研、教學和生產服務。可為基礎地質研究以及找礦勘探等提供精細的年代數據。
研究方向和研究領域
1.K-Ar和Ar-Ar年代學：與地質事件有關的常規測年及其研究；2.構造—熱年代學：研究中、新生代構造—熱事件的地質問題，探討有關山體抬升與盆地沉降等的大陸動力學；
3.礦物微區、微量年代學：利用脈衝和連續加熱雷射熔樣系統研究與礦物形成或變質過程有關的地質問題，獲得精細的地質事件年齡及環境變化制約參數；
4.開展海水、有機物及岩體中惰性氣體He等的分析。
技術參數
有一個多種配置供選擇：法拉第一個倍增器，
一個法拉第二個倍增器，
一個法拉第3個倍增器，
一個法拉第4個倍增器，
六個法拉第4個倍增器，
還有專門測He同位素專門測Ar同位素的兩種儀器
Nier型離子源，所有離子源參數由計算機控制
不連續打拿級離子計數電子倍增器
全“乾”泵技術的真空系統
平頂峰高解析度，高效利用儀器的靈敏度
主要特點
多接收器大範圍自動變焦離子鏡
高效Nier離子源
疊層電磁鐵
穩定可靠的電路設計
優秀的真空系統
高靈敏度
