公司簡介
公司擁有強大的研發力量和行業專家，研製生產的Rise系列雷射粒度分析儀、全自動比表面積及孔隙度分析儀、顆粒圖像分析儀、粉塵形貌分散度測試儀，設計符合國際技術標ISO9001:2008、ISO-13320、ISO-9277、ISO-15901、ISO-13322-1及國家標準GB/T19587-2004、GB/T19001-2008, 吸取了英、美、德等國家的粒度測試先進經驗，一切指標均達到國內領先、國際先進水平，在中國科學院、清華大學和中國電子科技集團公司等科研院校及企事業單位得到了廣泛的認可和使用Rise系列雷射粒度分析儀、全自動比表面積及孔隙度分析儀、顆粒圖像分析儀、粉塵形貌分散度測試儀適用於各種粉體、懸浮液、乳濁液、材料、催化劑等行業已經得到了廣泛的套用。
產品展示
比表面積
1.Rise-1020型全自動比表面積及孔隙度分析儀2.Rise-1010型全自動比表面積及孔隙度分析儀
儀器簡介:
Rise-10x0型全自動比表面積及孔隙度分析儀參照ISO9277、ISO15901國際標準和GB-119587國家標準，依據靜態容量法測量原理，通過質量平衡方程、靜態氣體平衡和壓力測定來測試吸脫附過程，測試過程在液氮溫度下進行。已知量氣體充入樣品管後，會引起壓力下降，由此計算吸附平衡時被吸附氣體的摩爾質量。通過測定的平衡吸附量，利用理論模型來求出被測樣品的單點、多點BET比表面積，Langmuir比表面積；BJH中孔、大孔體積、面積分布，總孔體積；t―plot微孔體積和表面積，Dubinin―Astakhov微孔分布，Horvath―Kawazoe微孔分布；密度函式理論（DFT）和蒙特卡洛（MC）孔徑分布模型等參數。
雷射粒度儀
1.Rise-2208型全自動雷射粒度分析儀2.Rise-2206型全自動雷射粒度分析儀
3.Rise-2202型全自動雷射粒度分析儀
工作原理：
Rise-220x型濕法雷射粒度分析儀採用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測顆粒和分散介質的折射率等光學性質，根據大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分布數據。
顆粒測試的數據計算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計算前假設顆粒群符合某種分布規律，再根據該規律反演出粒度分布。這種運算相對比較簡單，但由於事先的假設與實際情況之間不可避免會存在偏差，從而有約束擬合計算出的測試數據不能真實反映顆粒群的實際粒度分布。
無約束擬合反演即測試前對顆粒群不做任何假設，通過光強直接準確地計算出顆粒群的粒度分布。這種計算前提是合理的探測器設計和粒度分級，給設備本身提出很高的要求。Rise-2208型濕法雷射粒度分析儀採用最優的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測器陣列和合理的粒度分級，從而能夠準確地測量顆粒群的粒度分布。
顆粒圖像儀
套用範圍
適用於磨料、塗料、非金屬礦、化學試劑、粉塵、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和分析。
乾濕兩用粒度儀
1.Rise-2028型乾濕兩用雷射粒度分析儀2.Rise-2026型乾濕兩用雷射粒度分析儀
工作原理：
Rise-202x型乾濕兩用雷射粒度分析儀採用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測顆粒和分散介質的折射率等光學性質，根據大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分布數據。
顆粒測試的數據計算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計算前假設顆粒群符合某種分布規律，再根據該規律反演出粒度分布。這種運算相對比較簡單，但由於事先的假設與實際情況之間不可避免會存在偏差，從而有約束擬合計算出的測試數據不能真實反映顆粒群的實際粒度分布。
無約束擬合反演即測試前對顆粒群不做任何假設，通過光強直接準確地計算出顆粒群的粒度分布。這種計算前提是合理的探測器設計和粒度分級，給設備本身提出很高的要求。Rise-2028型乾濕兩用雷射粒度分析儀採用最優的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測器陣列和合理的粒度分級，從而能夠準確地測量顆粒群的粒度分布。
產品詳細介紹以及其他產品介紹詳見公司主頁。
售後服務
1、 免費為需方在需方所在地一次性培訓操作技術人員1～5名。2、 產品自驗收之日起保修1年。在保修期內，若儀器發生質量問題，我方全免費上門服
務；未經培訓人員操作或操作人員違反操作規程引起的儀器故障，我方仍提供上門服務，
只收取配件成本費。
3、 超出保修期，我方仍提供上門服務，只收取配件成本費。
4、 需方報修，我方接到通知後8小時內提供解決問題的方案，重大問題除等車和坐車時間
外24小時內趕到維修現場。
5、 我方長期提供技術跟蹤和諮詢服務。
6、 軟體提供免費升級服務。
