產品說明:
植物冠層分析儀可廣泛套用於農業生產和農業科研，為進行冠層光能資源調查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發育、產量品質與光能利用間的關係，本儀器用於400nm－700nm波段內的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（μmols-1m-2）。托普雲農生產的TOP-1000植物冠層分析儀又叫作物冠層分析儀，可廣泛套用於農業生產和農業科研，為進行冠層光能資源調查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發育、產量品質與光能利用間的關係。
植物冠層分析儀主要特徵
●儀器將顯示屏、操作按鍵、存儲SD卡及測量探桿一體化設計，操作簡單，體積小，攜帶方便
●存儲介質採用SD卡，存儲容量大，數據管理方便
●具有自動休眠功能
●測量方式分為自動和手動兩種。自動測量時間間隔最小1分鐘，自動測量次數最大99次，手動測量根據實際需要手動採集
技術參數:
◆測量範圍：0-2700μmolm-2s-1
植物冠層分析儀◆相對差度（譜回響）：＜10%（對植冠
◆精度：<測量值的±0.5%±1個字
◆準確度：<測量值的±5%±1個字（相對於NIM標準
◆自動採集間隔：可選1-99分鐘
◆自動採集次數：1-99次
◆數據存儲容量：2GB（標配SD卡）
◆儀器總長度：75cm
◆探桿長度：50cm
◆感測器數量：25個（標配）
◆電源：2節5號電池
◆工作環境：0°C-60°C；100%相對濕度
◆穩定性：一年內變化＜±2%
操作原理：
1.任何物質都具有發射、吸收及反射電磁波的特性，這是光譜信息檢測的基本原理。通過測量每一波長輻射的吸收、傳送或反射，物質的特性就能被確定。在實際套用時，僅需要選擇某些特定波段來識別被選定物質的特性。利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外(NIR)區電磁波譜的某些波段。此波段區域可以用於量化各種脅迫導致的植物冠層發射率差異。750-900納米的近紅外波段對探測和評估植物葉片病害的嚴重性十分有用。近紅外區的長波波段可以用於估計植物的生物化學成份。
2.採用可見/近紅外光反射光譜技術和多通道光譜信息掃描技術，可快速測定植被表面參數、植物冠層信息、植物養分信息、土壤養分信息、環境參數、植物病蟲害程度等。
3.儀器為8通道通用光譜檢測分析儀，最大可支持16通道不同波段的通用光譜信息採集儀器，用戶可以根據實際須要定製不同波段的濾光片進行光譜檢測。
4.儀器自帶8個波段的濾光片，主要中心波段為：540nm,650nm,680nm,730nm,810nm,940nm,1100nm,
5.內置感測器自動校正模組。
套用範圍：
1.植物生長調節劑的評估
2.客觀有效地對各種葉片病害的評級
3.監測套用除草劑的效果
4.用於土壤改善和肥力的研究
5.葉面施肥的研究
6.灌溉日程安排的研究
7.乾旱對植物生長和產量的影響
8.不同基因型的特性
9.試驗地變異的評估
分析儀特點：
1.輻射計方向360度可調，可以自動校準太陽方向角對測量造成的影響
TOP-1000植物冠層分析儀 2.儀器高矮可調節
3.能夠在少雲的情況下使用
4.8個波段與Landsat衛星熱波譜圖的前8條波段相似
5.重量輕、便於攜帶
6.可以用於無人值守的操作
7.數據可直接導入計算機，以便分析之用
