材料近代分析測試方法(修訂版)

X射線的本質1.2 透射電子顯微分析7.1 掃描電子顯微分析8.1

作/譯者：常鐵軍 出版社：哈爾濱工業大學出版社
出版日期：2005年08月
ISBN：9787560313870 [十位:7560313876]
頁數：287重約：0.420KG
定價：￥24.00
內容提要：
本書介紹了近代材料學科常用的幾種分析測試方法,全書力求把原理、方法、套用融為一體,簡明而實用。內容包括X射線衍射技術、電子光學微觀分析技術、材料表面分析技術、掃描探針顯微鏡技術、材料熱分析技術,紅外光譜與拉曼光技術及色譜及色質在線上技術等。
本書可作為高等學校材料學科各專業本科生教材,研究生數學參考書,也可作為從事教材研究及分測試方面工作的技術人員參考。
圖書目錄：
第1章 X射線物理學基礎
1.1 X射線的本質
1.2 X射線譜
1.3 X射線與物質相互作用
第2章 x射線運動學衍射理論
2.1 X射線衍射方向
2.2 布拉格方程的討論
2.3 倒易點陣
2.4 X射線衍射強度
第3章 x射線衍射方法
3.1 粉末照相法
3.2 X射線衍射儀
第4章 多晶體的物相分析
4.1 物相的定性分析
4.2 物相定量分析
第5章 巨觀應力測定
5.1 X射線應力測定的基本原理
5.2 試驗方法
5.3 試驗精度的保證及測試原理的適用條件
第6章 電子與物質的互動作用
6.1 散射
6.2 高能電子與樣品物質互動作用產生的電子信息
第7章 透射電子顯微分析
7.1 透射電鏡的結構及套用
7.2 電子衍射
7.3 透射電子顯微分析樣品製備
7.4 薄晶體樣品的衍射成像原理
第8章 掃描電子顯微分析
8.1 掃描電鏡工作原理、構造和性能
8.2 掃描電鏡在材料研究中的套用
8.3 波譜儀結構及工作原理
8.4 能譜儀結構及工作原理
8.5 電子探針分析方法及微區成分分析技術
第9章 材料表面分析技術
9.1 俄歇電子能譜分析
9.2 x射線光電子能譜分析
9.3 原子探針顯微分析
第10章 掃描探針顯微鏡
10.1 掃描探針顯微鏡(SPM)的基本原理
10.2 掃描隧道顯微鏡(STM)在材料研究中的套用
10.3 其他掃描探針顯微鏡簡介
10.4 掃描探針顯微鏡(SPM)的硬度及磨損測試
10.5 掃描探針顯微鏡(SPM)的計量化
第11章 核磁共振與電子自旋共振波譜
11.1 核磁共振的基本原理
11.2 電子自旋共振波譜
第12章 固體高聚物的小角光散射
12.1 小角雷射光散射
12.2 光散射技術在高聚物研究中的套用
第13章 熱分析技術
13.1 差熱分析
13.2 示差掃描量熱法
13.3 熱重分析
13.4 熱分析技術在高聚物研究中的套用
第14章 紅外光譜與拉曼光譜
14.1 紅外光譜
14.2 拉曼光譜
第15章 色譜及色質在線上技術
15.1 氣相色譜
15.2 薄層色譜的原理及套用
15.3 色質在線上技術
附錄
參考文獻