拉曼成像

拉曼成像

拉曼成像技術是新一代快速、高精度、面掃描雷射拉曼技術,它將共聚焦顯微鏡技術與雷射拉曼光譜技術完美結合,作為第三代Raman技術,具備高速、極高解析度成像的特點。相對於原來的傳統拉曼套用技術而言,新一代拉曼成像速度是常規Raman mapping的300-600倍,一般在幾分鐘之內即可獲取樣品高分率的拉曼圖像。

簡介

憑藉優異的性能,雷射拉曼成像技術可以被廣泛的套用到電池、石墨烯、生物、材料、薄膜、單晶、藥物等研究領域。

創新性技術——實現高速、高分辨拉曼成像。

用途

雷射束掃描

拉曼成像使高速掃描成為可能,利用光束掃描的無震動和無漂移特點,成像更為清晰。

拉曼成像 拉曼成像

多光譜同步測量

高速、高解析度拉曼成像通過採用線形拉曼散射光獲得,每一條掃描線都含有400個獨立的光譜。

拉曼成像 拉曼成像

線形照明

高速高分辨拉曼成像系統採用線性照明,產生線形RAMAN散射光。

特殊的光學系統確保光強的均勻分布 狹縫聚焦

拉曼成像 拉曼成像

共聚焦光學系統實現高解析度拉曼成像。

同一共聚焦光學系統用於快速拉曼成像。

拉曼成像 拉曼成像

套用案例

快速區分單層與多層石墨烯

nanphoton石墨烯案例 nanphoton石墨烯案例

雷射源:532nm。

物鏡:100X,NA=0.9。

光譜數:67,600(400*169)。

測量時間:5分30秒。

通過高速高分辨拉曼成像技術,可以對不同層數的石墨烯快速成像。

以350納米的高空間解析度,僅用5分鐘的測量時間即可識別從單層到四層的石墨烯及其分布。

材料應力分布

nanphoton應力分布案例 nanphoton應力分布案例

圖像解析度:320(x)×400(y)=128,000 Spectra。

成像時間:16分鐘。

通過高速高分辨拉曼成像技術,可以探測到晶體結構的扭曲,如矽材料等。矽的Raman峰位於520cm。矽單晶中由於應力的作用,會造成晶格結構的偏離與扭曲。右圖通過測量Raman峰的偏離,進而給出了矽單晶表面應力的分布。

無損傷材料組分剖面分析

nanphoton無損剖面分析案例 nanphoton無損剖面分析案例

圖像解析度:300(x)×120(z)=36,000 Spectra。

成像時間:8 分鐘。

右圖是通過高速高分辨拉曼成像技術的無損探測技術,對多層膜進行的深度剖析。通過聯用共聚焦光學系統與面掃描技術,可以成功地探測到深度圖像。

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