簡介
憑藉優異的性能,雷射拉曼成像技術可以被廣泛的套用到電池、石墨烯、生物、材料、薄膜、單晶、藥物等研究領域。
創新性技術——實現高速、高分辨拉曼成像。
用途
雷射束掃描
拉曼成像使高速掃描成為可能,利用光束掃描的無震動和無漂移特點,成像更為清晰。
多光譜同步測量
高速、高解析度拉曼成像通過採用線形拉曼散射光獲得,每一條掃描線都含有400個獨立的光譜。
線形照明
高速高分辨拉曼成像系統採用線性照明,產生線形RAMAN散射光。
特殊的光學系統確保光強的均勻分布 狹縫聚焦。
共聚焦光學系統實現高解析度拉曼成像。
同一共聚焦光學系統用於快速拉曼成像。
套用案例
快速區分單層與多層石墨烯
雷射源:532nm。
物鏡:100X,NA=0.9。
光譜數:67,600(400*169)。
測量時間:5分30秒。
通過高速高分辨拉曼成像技術,可以對不同層數的石墨烯快速成像。
以350納米的高空間解析度,僅用5分鐘的測量時間即可識別從單層到四層的石墨烯及其分布。
材料應力分布
圖像解析度:320(x)×400(y)=128,000 Spectra。
成像時間:16分鐘。
通過高速高分辨拉曼成像技術,可以探測到晶體結構的扭曲,如矽材料等。矽的Raman峰位於520cm。矽單晶中由於應力的作用,會造成晶格結構的偏離與扭曲。右圖通過測量Raman峰的偏離,進而給出了矽單晶表面應力的分布。
無損傷材料組分剖面分析
圖像解析度:300(x)×120(z)=36,000 Spectra。
成像時間:8 分鐘。
右圖是通過高速高分辨拉曼成像技術的無損探測技術,對多層膜進行的深度剖析。通過聯用共聚焦光學系統與面掃描技術,可以成功地探測到深度圖像。