⊙適用於Windows®2000或選擇適用於Windows®XP的真Win32位程式帶線上幫助功能
⊙頻譜庫中允許創建從元素鈦至鈾的任何一種新的套用(儀器廠家負責人:陳藝欣13534073239)
⊙能通過“套用工具箱”(由一個帶所有套用參數的軟碟和校準標準塊組成)使套用的校準簡單化
⊙畫中畫測試件查看和數據顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準十字星，並有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決於測量的距離）
⊙圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入於測試報告中
儀器測量模式用於：
☆單、雙及三層鍍層系統
☆雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量
☆雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析（兩層的厚度和合金成分都能被測量）
☆能分析多達四種金屬成分的合金；電鍍液中金屬離子含量
☆可程式的套用項圖示，用於快速套用項選擇
☆完整的統計功能，SPC圖，標準的機率圖和矩形圖評估
☆報告生成，數據輸出
☆語言可選擇：英語，德語，法語，義大利語，西班牙語，及中文
☆選單中的某些選擇項可授權使用
註：基礎WinFTM軟體版本不允許創建新的套用，所要求的套用不得不在定貨時明確。當校準標準塊與儀器一起定購時，可在交貨前預先創建套用。若沒有定購校準標準塊，則只可使用已預裝的*無需標準塊的測量套用。
☆可選擇的SuperWinFTM軟體（訂貨號602-950）提供了以下的附加功能：
☆可隨意創建測量套用
☆可把每種測量模式的測量範圍設定為想要的理論上的測量精度
☆快速的頻譜分析以決定合金成分
技術參數:
1.FischerscopeX-RAYXUL-XYm是採用根據技術標準DIN50987，ISO3497和ASTMB568的X-射線螢光測試方法；
2.原始射線從下至上；
3.X-射線管高壓設定可調節至最佳的套用：50kV，40kV或30kV；
4.視準器組：圓直徑為0.3；在附加費用的基礎上可選擇0.05X0.3mm長方形視準器
5.測量箱外部尺寸：（高×寬×深）510mm×455mm×580mm，重量大約為45kg；
6.帶槽箱體的內部尺寸：（高×寬×深）240mm×360mm×380mm）帶向上迴轉箱門；
7.手動X-Y工作檯（平面板：360mm寬×240mm深），帶50mm的X方向和50mm的Y方向運行.
8.試件查看用標準的彩色攝像機；
9.測量開始/結束按鈕，及LED狀態指示燈與測試箱集成在一體。
儀器特點:
FISCHERSCOPE®XUL®設計為X-射線管和探測器系統位於測量台下部。因此測量方向從下往上。這也就提供了一個重要的優點，尤其對於測量各種不同幾何外形的小工件，例如螺絲、螺母、螺栓或各種各樣的電連線器。在絕大多數情況下，被測試工件的表面可直接放置於測量台上，這就避免了在從上往下測量系統中需要的測量距離調整。測試點會自動地調整在正確的距離上。這就加快了測量的過程並且避免了由於工件定位不佳可能造成的測量誤差。-FISCHE是唯一一家實現了這種設計的X-射線螢光鍍層厚度測試儀器的製造廠商。
與WinFTM®V.6軟體及校樣標準塊Goldassay配合，XUL®作為FISCHERSCOPE®GOLDLINEASSAY的一部分，可以完美地適應於快速，非破壞性和精確的測量珠寶及貴金屬中金的成分。
