平均失效時間

平均失效時間（Mean 這是衡量元器件和電路可靠性的一個參量，人們總是要求平均失效時間越長越好。 對於半導體器件和積體電路，在大電流時影響可靠性的一個重要因素就是金屬電極薄膜的電遷移現象，這種情況下的平均失效時間與電流密度J和激活能Ea有關，即MTF

平均失效時間（Mean time of failure，MTF）：
這是衡量元器件和電路可靠性的一個參量，人們總是要求平均失效時間越長越好。
對於半導體器件和積體電路，在大電流時影響可靠性的一個重要因素就是金屬電極薄膜的電遷移現象，這種情況下的平均失效時間與電流密度J和激活能Ea有關，即MTF ∝(1/J2) exp[Ea/kT]；因此為了提高可靠性，就應當降低電流密度和增大激活能[例如在Al膜中摻Si]。