干涉顯微鏡

干涉顯微鏡，是套用光的干涉測量零件表面粗糙度的光學儀器。

中文名稱：干涉顯微鏡
英文名稱：interference microscope
定義1：套用光的干涉測量零件表面粗糙度的光學儀器。
所屬學科：機械工程（一級學科）；光學儀器（二級學科）；光學計量儀器（三級學科）
定義2：一種利用透過標本光束與參照光束在成像焦面合軸，造成干涉效應，觀察半透明標本和測定折射率的顯微鏡。
所屬學科：細胞生物學（一級學科）；細胞生物學技術（二級學科）

簡介

採用通過樣品內和樣品外的相干光束產生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉換為振幅（光強度）變化的顯微鏡，根據干涉圖形可分辨出樣品中的結構，並可測定樣品中一定區域內的相位差或光程差。由於分開光束的不同，有不同類型的干涉顯微鏡，以及用於測定樣品的積分顯微鏡干涉儀。干涉顯微鏡主要用於測定活的或未固定的相互分散的細胞或組織的厚度或折射率。