孫秀斌

孫秀斌,男,副教授,生於1968年,研究生學歷,博士學位。2004年6月畢業於電子科技大學自動化工程學院,獲測試計量技術及儀器專業博士學位,先後在中興通訊和TCL通訊公司工作,2007年4月調入成都信息工程學院。

基本信息

教育科研

研究方向

1.高速數位訊號處理

2.信息獲取與處理

3.雷電科學與技術

在研項目

基於USB2.0的四通道邊緣掃描控制器設計,校級課題,項目負責人

完成項目

1.基於聯合時頻分析和神經網路的非線性模擬電路測試研究,國家自然科學基金項目(代碼:60372001),第三主研人,2006年12月完成。

2.嵌入計算機可測試性設計技術,總裝備部,第六主研人,2005年12月完成

3.邊緣掃描測試技術研究,總裝備部,第四主研人,2003年12月完成

發表論文

數字積體電路的混合模式內建自測試方法,《儀器儀表學報》,2006年4月,核心期刊(EI收錄),第2作者

減少SOC測試時間的測試結構配置與規劃,《儀器儀表學報》,2005年8月,核心期刊(EI收錄),第3作者

模擬電路故障診斷中線性組合矩陣的最簡形式,《系統工程與電子技術》,2005年5月,核心期刊(EI收錄),第1作者

IP芯核測試回響的零混疊空間壓縮,《儀器儀表學報》,2005年4月,核心期刊(EI收錄),第2作者

一種新的模擬積體電路輸出參數測試方法,《儀器儀表學報》,2004年12月,核心期刊(EI收錄),第1作者

基於微分靈敏度計算的模擬積體電路故障定位,《儀器儀表學報》,2004年12月,核心期刊(EI收錄),第1作者

模擬積體電路的測試節點選擇,《電子與信息學報》,2004年4月,核心期刊(EI收錄),第1作者

基於神經網路信息融合技術的模擬電路故障診斷,《電路與系統學報》,2007年10月,核心期刊,第2作者

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