簡介
大維德文物研究院擁有由博物館專家負責引進的目前最先進最科學的螢光光譜、熱釋光分析檢測儀，脫玻化結構分析測試儀，X射線衍射儀，經權威專家直接對儀器進行調試，並提供了由大英博物館研究匯總的十萬餘各類文物在各時代的成分含量資料庫，經過多年來的實際使用，該儀器對各時代各類文物的測試結果已得到了專業機構及社會各界的認可。是目前國際上把傳統鑑定與科技鑑定相結合的“龍頭”機構。
.合作機構
大維德文物研究院目前只與英國、美國、日本、德國、法國、俄羅斯等國家的著名大學、科研機構。以專家互訪、講學、合作研究等方式廣泛進行學術交流，與國際著名的國際化組織進行業務合作與往來。大維德文物研究院是碩士、博士學位授予單位，設有博士後流動站。多年來，還與美國、加拿大、法國、德國、日本、瑞士、斯洛維尼亞、香港等國家和地區進行聯合培養了多名研究生。
.社會評價
大維德文物研究院經多年的發展，已成為一個以基礎性研究為先導，以高技術創新和套用發展研究為主體的文物檢測綜合性科研檢測機構，研究院定位在國際級權威鑑定機構的標準，採用傳統鑑定及科學儀器鑑定方法，本著實事求是，公平、公正的原則，準確地、科學的鑑定各類文物。
科研條件
研究院具有先進的科研條件，大規模的園區建設使實驗室的工作環境煥然壹新；知識創新經費的支持，促進了科研設備的現代化；國家級測試中心的建立使文物的表征具有可靠性和權威性；圖書、情報、刊物良好的支撐系統，充分顯示了追求信息動態的高效率。壹直為政府及法院委託方提供科學、準確、公正的檢測數據並出具權威的檢測報告。
科研設備
斷源與斷代是古陶瓷科學技術研究中的兩個重要方面，其中必定要使用到對古陶瓷標本的化學組成以及記錄其年代信息的載體進行測定的科學方法。測定古陶瓷標本與各地制陶原料的化學組成可以確定古陶瓷的產地，並可在一定程度上幫助判斷古陶瓷的燒造年代；而通過檢測保留在古陶瓷內部的記錄其年代信息的各種載體，則可以較準確的進行斷代。能量色散X螢光能譜(EDXRF)是以X射線照射到樣品表面，利用能譜儀測定各種元素的特徵X射線光子的能量和強度，以此來進行定性和定量分析。這種方法樣品處理很簡單，分析速度快，測量元素範圍廣，配合適當的標準參考物可得到較好的準確度，對樣品表面基本無損傷，如果在儀器定製時加裝真空大樣品室，就可以進行大器物的無損測試了。綜合這些優點，可以認為它是目前進行古陶瓷無損鑑定比較好的一種方法。
陶瓷器的鑑定曾經一度受到不可採樣的限制，僅對一些大型器物底部取樣作些熱釋光的年代分析工作，一些造假者甚至利用射線源對新燒的仿製品進行輻照處理，以期對熱釋光的檢測造成假象，干擾測試結果的結論。自打八十年代以來，大樣品室的X射線螢光能譜儀問世，瓷器的釉表面成分原位無損檢測既成事實，為瓷器的真偽判別引入了一種全新的方法。最近一兩年，由於河南汝窯遺址的發現，文物市場上一時間汝窯瓷器泛濫，各種形制、顏色的汝窯器著實讓人眼花繚亂。在使用X射線螢光能譜儀對其瓷釉表面成分進行無損分析的過程中粗略統計了一下，民間收藏的待測品九成以上都是假貨，其中大多數瓷釉成分中含有現代瓷釉製造的添加劑，而這些組分是宋代瓷釉中不可能出現的成分，用能譜儀檢測此類器物可謂是輕而易舉、手到擒來。我們知道絕大多數瓷釉的基本組分是由十種元素即：鈉、鎂、鋁、矽、磷、鉀、鈣、鈦、錳、鐵的氧化物構成，不同時代、窯口燒造的瓷釉其組成成分的配比是有區別的，正因如此，我們可對大量經科學考古發掘的有確定年代和出土地點依據的參考瓷片釉層成分做出成分配比的數值分布範圍，將受鑑定樣品的成分配比與相應時代的參考片成分進行比對，據此判斷被檢樣品在成分構成上的可靠性，實踐證明，當前文物市場中周轉的陶瓷器文物，有半數以上成分配比與古瓷片有較大差距，另有相當一部分含有古代瓷器瓷釉中所沒有的組成成分，如氧化鋅、氧化鋇、氧化鋯等現代瓷釉添加劑，對於這類贗品瓷器，通過成分檢測可以非常容易的認定其屬性。如仿汝瓷釉含氧化鋯、氧化鋅。
研究院使用的EDX8000L系列的儀器是一款專門針對於古文物檢測而量身定做的無損測量的能量色散X螢光分析儀器，其技術參數如下：
產品名稱：SkyrayX螢光光譜儀
型號：EDX8000L
測量元素範圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析範圍：1ppm—99.99%
分析精度：0.05%
同時分析元素：幾十種元素同時分析
環境溫度:15-26℃
相對濕度:≤70%
外觀尺寸：800×710×1360mm
樣品腔尺寸：600×600×600mm
重量：280kg
研究院使用的EDX8000L型的儀器，利用大維德博物館提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣，一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量，再對照中國古陶瓷資料庫便可以達到斷代斷源的功效。同時為了更好的利用X螢光分析儀器的無損測量特性，研究院特意根據行業需要製作超大型的抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。
