場致發射顯微鏡圖象

場致發射顯微鏡圖象

場致發射顯微鏡簡介場發射分析的TEM/STEM儀器，並帶有HAADFSTEM，它利用微區電子衍射、會聚束電子衍射及元素分析可對小至0.5納米的物質進行結構和成分分析，元素分析範圍為硼(B5)～鈾(U92)，因而特別適用於普通電鏡難以分辨的微細析出相、界面、疇等極細小區內成份、結構及高分辨結構象研究；利用所配置的GIF系統可採集樣品的電子能量損失譜，進行相應的分析工作；普通電鏡的功能：晶體取向標定以及晶體結構、晶體缺陷、結構像的觀察等。