同步輻射X射線微探針

同步輻射X射線微探針是隨著同步輻射光的套用而發展起來的一種新的微區痕量無損分析技術。當前該技術可提供10微米的空間解析度和1～n微克/克的檢出限。進行物質來源與成因的研究。

基本信息

• 中文名：同步輻射X射線微探針
• 英文名：synchrotron radiation X-ray microprobe（SXRM）

簡介

學科：岩礦分析與鑑定
詞目：同步輻射X射線微探針
英文：synchrotron radiation X-ray microprobe（SXRM）

概念

同步輻射X射線微探針是隨著同步輻射光的套用而發展起來的一種新的微區痕量無損分析技術。它是利用同步加速器電子儲存環中產生的具有奇異特性（頻頻寬且連續可調；通量大亮度高；準直性好；高度偏振；具有特定時間結構）的電磁波（通稱為同步輻射或同步輻射光），再經準直、聚焦或單色化而形成高亮度的X射線微探針進行樣品分析。

發展

當前該技術可提供10微米的空間解析度和1～n微克/克的檢出限。同步輻射X射線微探針技術開展的微觀地學研究，涉及礦物包裹體、大氣飄塵、宇宙塵、貴金屬在硫化物礦物中的分配、隕石、地幔物質等，利用同步輻射X射線微探針技術還測定了單個稀土礦物顆粒中的稀土元素，以進行物質來源與成因的研究。