光彈性應變計
正文
根據光彈性貼片法原理製成的一種應變計，主要由一塊光彈性材料（如環氧樹脂）製成的小薄片和覆蓋在這薄片上面的偏振片所組成。測試時將光彈性應變計固定在構件的被測表面上，當構件承受載荷時，薄片就隨構件表面一起變形。這種變形在偏振光場中以等差線條紋的移動或增多反映出來，故能直接指明被測點的應變大小和方向。一般情況下，應變計的靈敏度能達到30微應變（1微應變＝10-6毫米／毫米）；如果採用特殊的觀測儀器,靈敏度能達到5微應變。光彈性應變計的主要優點是：直觀性好；不需要複雜的附加設備；抗干擾性好，可用於較惡劣的試驗條件（如水下、爆炸氣體中），或者被測表面比較粗糙的試件上；可以重複使用。光彈性應變計的尺寸不可能很小，厚度不可能很薄，因此只能用於尺寸較大的構件，在橋樑、礦井、水壩和房屋建築以及機械工程中套用較廣。光彈性應變計通常有以下兩種類型：單軸光彈性應變計 它是將環氧樹脂梁在純彎曲作用下凍結後切片製成的。切片的長度方向和梁的軸線垂直。在應變計長度方向裝有標尺，可由等差線條紋移動的距離,直接指示沿應變計長度方向應變的大小（圖1）。 雙軸光彈性應變計 它是一個中央開有小孔且無初始應力的圓薄片(圖2)。受力後，圓薄片中等差線條紋的對稱軸方向，標誌著主應變或主應力的方向（圖3）。根據孔附近的條紋級數進行計算，並依據有關的數據表確定兩個主應力的大小。但為方便起見，常用雙軸應變計測定主應變方向或比值，而用單軸應變計測定主應變大小。
參考書目
A.柯斯克、G.羅伯遜著，王燮山、黃杰藩、金炎、黃永權譯：《光彈性應力分析》,上海科學技術出版社,上海，1979。(A. Kuske and G.Robertson,Photoelastic Stress Analysis,JohnWiley & Sons,New York,1974.)
