β射線測厚儀常用的β射線源和測量範圍列於表中。在測量極薄板帶材時,X射線因能量過高而不便使用,β射線則適用於0.8mm以下的鋼及銅帶等金屬材料。
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射線探傷
所謂射線探傷是利用某種射線來檢查焊縫內部缺陷的一種方法。常用的射線有X射線和γ射線兩種。X射線和γ射線能不同程度地透過金屬材料,對照相膠片產生感光作用。...
射線探傷簡介 射線探傷原理 探傷方法介紹 常用器材 器材套用 -
γ射線
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研究歷程 產生原理 測量方法 主要危害 套用 -
γ射線料位計
γ射線料位計也叫γ射線物位計、γ射線液位計,是利用物料對γ射線的阻擋作用進行物位測量的儀表。除了γ射線料位計,還有中子物位計等用其他類型的射線進行物位測...
簡介 工作原理 儀表組成 儀表參數 套用場合 -
軟X射線
X光線波長介於紫外線和γ射線 間的電磁輻射。X射線是一種波長很短的電磁輻射,其波長約為(0.01~100)埃之間。由德國物理學家W.K.倫琴於1895年...
簡介 發展背景 軟X射線投影光刻系統 軟X射線投影光刻關鍵技術研究現狀 -
貝克勒爾射線
1896年3月的一個陰天,法國物理學家貝克勒爾(Henri Becquerel)打開他的抽屜,發現了自發的放射線,這是物理史上最有名的意外發現之一。
貝克勒爾簡介 放射性簡介 放射性的發現 進一步的研究 -
雷射測厚
它在工業生產過程中常用於測量材料及其表面鍍層厚度,並且可以用於厚度控制系統的誤差測量。 它的主要特點是在測量過程中,不需要測量出材料厚度的絕對尺寸,而只...
概述 -
膜厚探測系統
膜厚探測系統又稱薄膜檢測系統,用於測量薄膜的厚度。現有的薄膜厚度測量技術中,光學厚度測量技術測量精度高,然而難以實現大厚度薄膜測量;非光學厚度測量技術可...
研究意義 非光學方法 光學方法 基於FPGA的金屬膜厚檢測系統 -
X射線金相學
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簡介 -
工業無損檢測技術:射線檢測
《工業無損檢測技術:射線檢測》是作者夏紀真集多年從事生產第一線射線無損檢測技術工作的實踐經驗,從事科研與技術諮詢服務,開展射線無損檢測人員技術資格等級培...
基本介紹 圖書目錄