X射線譜分析

X射線譜分析（X-ray spectral analysis）屬於岩礦分析與鑑定學科，指根據物質中各元素所輻射的特徵X射線譜的波長和強度，來測定元素成分的分析方法。用高速電子流轟擊原子內層電子，並產生電子躍遷，使其發生特徵X射線，通過波長色散或能量色散分辨波長或能量並用探測器測量其強度。

學科：岩礦分析與鑑定
詞目：X射線譜分析
英文：X-ray spectral analysis
釋文：根據物質中各元素所輻射的特徵X射線譜的波長和強度，來測定元素成分的分析方法。用高速電子流轟擊原子內層電子，並產生電子躍遷，使其發生特徵X射線，通過波長色散或能量色散分辨波長或能量並用探測器測量其強度。這種方法稱為一次發射X射線譜分析。當用X射線照射物質使其產生特徵X射線，再測量其譜線的波長（或能量）和強度的方法，稱為二次X射線譜分析或X射線螢光光譜分析。由於後者操作簡便、精密度高，已在冶金、地質、石油等部門得到廣泛套用。