ED300型渦流測厚儀

套用範圍ED300型渦流測厚儀,用於檢測各種非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。 這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小,也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。 由於這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測頭。

簡介

ED300型渦流測厚儀 簡稱為渦流測厚儀,是一種小型攜帶型儀器。性能穩定、測量準確、重現性好、經濟耐用,符合國家標準GB/T4957,多次通過國家技術監督部門的性能試驗,獲得計量器具製造許可證。

套用範圍

ED300型渦流測厚儀,用於檢測各種非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。例如:鋁型材、鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁工件表面的陽極氧化層或塗層。儀器適於在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速無損的膜厚檢查。可用於生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。

技術規格

量程:0~150μm;精度:±3%;解析度:0.1μm;
功耗:0.06W;外形尺寸:150mm×80mm×30mm;重量:280g。

儀器特點

膜厚校正片
膜厚校正片是儀器的計量基準。本儀器的膜厚校正片全部經過技術監督部門的檢測,附有檢測報告。這一點在國內外儀器中都是不多見的。它保證了儀器計量的準確性和可靠性。
探頭
測厚儀最容易損壞的部件是探頭,本儀器對探頭做了特殊的耐久性設計,具有防磕碰、防水、探頭線防折曲等防護功能。

標準配置

主機1台
膜厚校正片1套(4片)
校正基體1塊
儀器箱1個
可選附屬檔案
膜厚校正片(12μm\25μm\50μm\100μm附檢測報告)
校正基體6063鋁合金

測量原理

高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場,測頭靠近導體時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小,也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由於這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭採用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較,主要區別是測頭不同,信號的頻率不同,信號的大小、標度關係不同。與磁感應測厚儀一樣,渦流測厚儀也達到了解析度0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。
採用電渦流原理的測厚儀,原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁製品表面的漆,塑膠塗層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性,通過校準同樣也可測量,但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導電體,但這類任務還是採用磁性原理測量較為合適

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