金矽面壘型探測器

金矽面壘型探測器

《金矽面壘型探測器(GB/T 13178-2008)》參考了IEC 60333:1993《核儀器半導體帶電粒子探測器測試程式》。本標準代替GB/T 13178—1991《金矽面壘型探測器》(以下簡稱原標準)。本標準保留GB/T 13178—1991的大部分內容,對其的主要修改如下:增加前言;引用新的規範性檔案;產品的外形及結構尺寸僅保留A型,刪去原標準的B型和C型;部分耗盡金矽面壘型探測器的分類僅保留最小耗盡層深度為300 μm 一類,而主要性能增加“允許最大噪聲”。

《金矽面壘型探測器(GB/T 13178-2008)》由中國核工業集團公司提出。本標準由全國核儀器儀表標準化技術委員會歸口。本標準起草單位:中核(北京)核儀器廠。本標準主要起草人:李志勇。

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