內容介紹《透射電子顯微學:材料科學教材》(4卷本)(影印版)是美國最為流行的教科書之一。它分為4卷：基本概念，衍射理論，成像原理及能譜分析。其中第1卷主要講解電子顯微鏡的基本概念，包括衍射基礎知識、顯微鏡的組成部件、儀器構造與功能以及樣品製備。第2卷介紹衍射圖像、倒易點陣、衍射電子像的標定，以及各種衍射分析方法。第3卷主要是關於成像原理。該卷對材料研究中典型的課題進行系統的介紹。比如晶體缺陷、內應力、相分析等。該卷還著重介紹了高分辨電子顯微鏡和圖像模擬。第4卷討論各種能譜的分析方法與技術。比如X射線譜、X射線定量定性分析、電子能量損失譜、離子能量損失譜等。在電子顯微學研究中最為基本的理論是衍射理論，因而該書利用相當大的篇幅介紹衍射理論以及與其緊密相關的晶體結構，這些知識是材料學專業的重要基礎理論之一。作品目錄ⅠBasics1The Transmission Electron Microscope2Scattering and Diffraction3Elastic Scattering4Inelastic Scattering and Beam Damage5Electron Sources6Lenses,Apertures,and Resolution7How to“See”Electrons8Pumps and Holders9The Instrument10Specimen Preparation ⅡDiffraction11Diffraction Patterns12Thinking in Reciprocal Space13Diffracted Beams14Bloch Waves15Dispersion Surfaces16Diffraction from Crystals17Diffraction from Small Volumes18Indexing Diffraction Patterns19Kikuchi Diffraction20Obtaining CBED Patterns21Using Convergent-Beam Techniques ⅢImaging22Imaging in the TEM23Thickness and Bending Effects24Planar Defects25Strain Fields26Weak-Beam Dark-Field Microscopy27Phase-Contrast Images28High-Resolution TEM29Image Simulation30Quantifying and Processing HRTEM Images31Other Imaging Techniques ⅣSpectrometry32X-ray Spectrometry33The XEDS-TEM Iterface34Qualitative X-ray Analysis35Qualitative X-ray Microanalysis36Spatial Resolution and Minimum Detectability37Electron Energy-Loss Spectrometers38The Energy-Loss Spectrum39Microanalysis with lonization-Loss Electrons40Everything Else in the Spectrum
