經典測量理論三假設

經典測量理論三假設是經典測量理論關於測驗分數的意義和性質的假設。它們分別是：（1）任何測驗分數 X 都是由真分數 T 和測量誤差 E 構成的：X= T+E真分數是反映受測者特質的指標，在某個受測者身上是個定值，測驗分數的變化是由於測量誤差的變化造成的；

（2）E 的平均數為 0，這樣，若測驗次數足夠多，X 便可無限接近 T；（3）任何兩次測驗所產生的誤差無關，即相關r(E1,E2) =0這一點在信度的計算中亦相當重要。經典測量理論的這三個假設是比較弱的假設，一般的測驗都能夠滿足，它們構成經典測量理論的基礎。參見“經典測量理論”。