簡介
粒度分析儀器當被測顆粒的某種物理特性或物理行為與某一直徑的同質球體（或其組合）最相近時，就是把該球體的直徑（或其組合）作為被測顆粒的等效粒徑（或粒度分布）。粒度測量實質上是通過把被測顆粒和同一種材料構成的圓球相比較而得出的；不同原理的儀器選不同的物理特性或物理行為作為比較的參考量，例如：沉降儀選用沉降速度、雷射粒度儀選用散射光能分布、篩分法選用顆粒能否通過篩孔等等；
原理
1 .全量程米氏散射理論 winner 系列雷射粒度分析採用全量程米氏散射理論，充分考慮了分散介質和被測顆粒的折射率，結合專利的測量裝置，根據大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化來反演出顆粒群的粒度大小和粒度分布規律；
2 .Winner系列雷射粒度分析儀採用獨創的無約束擬合反演方法、頻譜放大技術，數據處理後可以獲得更加真實的分布情況，對於高校、研究所等科學研究型客戶具有非常重要的實用價值；
3.Winner納米雷射粒度分析儀採用公司自主研發的CR-128數字相關器。眾所周知，現在國內的雷射粒度儀企業，全部採用的是“靜態光散射理論”，此理論測試的有效下限只能達到50納米，對於更小的顆粒則無能為力。納米顆粒測試必須採用“動態光散射”技術，而實現此技術的重要部件--相關器一直由國外壟斷，Winner納米雷射粒度分析儀率先打破了此項技術的國際壟斷，為國內填補了技術空白，可測試1-3500nm大小的顆粒。
