無源互調微波暗室

無源互調微波暗室

無源互調PIM是由天線發射系統中各種無源器件的非線性特性引起的。在大功率、多信道系統中,由於其大功率特性,使傳統的無源線性器件產生較強的非線性效應,這些無源器件的非線性會產生相對於工作頻率的更高次諧波,這些諧波與工作頻率混合會產生一組新的頻率,其最終結果就是在空中產生一組無用的頻譜(PIM3,PIM5,PIM7…),若這些互調產物落在發射或接收波段區間,並且這些互調產物的功率超過系統中有用信號的最小幅度,就會影響正常的通信。 通常如果條件允許,天線PIM電平測量可在室外完成。在進行這種測試時,必須滿足政府規章中允許的射頻輻射電平要求,另外,來自於AUT的射頻能量輻射,可能在周圍物體上產生PIM,並反射到天線中,導致天線PIM測試結果存在誤差,同時來自於外部的射頻輻射也可能會干擾測試質量,因此為準確測量天線PIM電平,測試應當在一個低PIM測試環境的電波暗室(也稱為無源互調檢測暗室,互調檢測暗室,無源互調暗室,PIM暗室或PIMtest Chamber)里進行,這樣可減少或消除很多影響因素。

影響天線產品PIM測試結果的因素

影響天線產品的PIM測試結果的因素包括以下幾個方面:

a)暴露在AUT輻射場中的導電材料;

b)AUT的安裝附屬檔案出現鬆動、損壞或腐蝕;

c)暴露在來自AUT輻射的射頻場中的鬆動或腐蝕的附屬檔案;

d)測試系統外部的無線電射頻信號;

e)性能很差的同軸接口電纜;

f)接口連線處存在骯髒、污染、磨損;

g)接口連線不當;

h)射頻接口連線禁止不善;

i)來自於測試設備的未經過濾的有源互調。

PIM精準測量的暗室主要技術指標

無源互調微波暗室 無源互調微波暗室

用於BTS天線無源互調電平(PIM)精準測量的暗室主要技術指標

( Changning PIM-antchamber)

Changning antenna PIM Test Chamber Technical Specifications

l 異性外觀,幕牆色彩工業設計

l 滿足無源基站天線與有源基站天線PIM3電平測量所需的環境

l 暗室工作頻率範圍: 400MHz – 18GHz

l 暗室禁止效能 >100dB @ 400MHz – 18GHz

l 暗室本底PIM電平 < -165dBc [email protected] (測試頻段 700MHz~6GHz)

l 優質國產700MM+500MM吸波海綿,高阻燃性能,連續照射承受功率容量1kw/m²

l 全手工打造木製天線測試架與測試平台

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