測量原理
磁性測厚法
漆膜測厚儀渦流測厚法
適用導電金屬上的非導電層厚度測量，此種方法較磁性測厚法精度低。
超音波測厚法
此種方法測量塗鍍層厚度的套用較少，,國外個別廠家有這樣的儀器，適用多層塗鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合，但一般價格昂貴測量精度也不高。
電解測厚法
此方法有別於以上三種,不屬於無損檢測，需要破壞塗鍍層，一般精度也不高，測量起來較其他幾種麻煩。
放射測厚法
此種儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上)，適用於一些特殊場合。
影響因素
基體金屬磁性質
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際套用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用和試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待塗覆試件進行校準。
基體金屬電性質
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率和其材料成分及熱處理方法有關。使用和試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。
基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大於這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
邊緣效應
儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。
曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。
表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未塗覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層後，再校對儀器的零點。
磁場
周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
附著物質
儀器對那些妨礙測頭和覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
測頭壓力
測頭置於試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數，因此，要保持壓力恆定。測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭和試樣表面保持垂直。類型
漆膜測厚儀可分為：機械式測厚儀此種上世紀70年代用過，是一種破壞式，精度差，要破壞產品，己經淘汰。
電解式測厚儀測厚儀比較大，操作複雜，價格高，也是要放藥水去破壞鍍層，時間長，一般很少人用。
磁感應測厚儀位於部件表面的探頭產生一個閉合的磁迴路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁迴路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即鍍層厚度。此方法國際公認方便精準快捷。
