Young'sexperiment
演示光的干涉現象的實驗。由英國T.楊於1801年設計。雙縫干涉實驗是他做的最著名的實驗。實驗裝置如圖，S、S1和S2為平行狹縫，雙縫S1和S2的間距d很小。單色光源照明狹縫S，從S發出的次波傳到雙縫S1和S2，S1和S2又發出兩次波，它們是從同一入射波前分出的，是相干光波，重疊時能產生干涉。在重疊區放置用來觀察的幕，幕與雙縫所在平面平行。幕上將觀察到明暗交替的干涉條紋，同一條紋由等光程差的點組成，光程差Δ＝kλ(k＝0±1±2…)時為干涉極大（λ為光波波長），對應亮條紋；Δ=(K+
)λ時為干涉極小，對應暗條紋。幕上條紋是一組等距的平行直線，與雙縫平行。相鄰兩干涉極大（或極小）間的間距稱條紋間距，條紋間距Δx由下式確定：
式中D為幕至雙縫的距離（d<<D），當D和λ一定時，條紋間距與d成反比，故觀察楊氏干涉條紋時雙縫間距不宜過大。對同一裝置，不同波長的光產生不同間距的條紋，光源用白光時，不同波長的條紋將交叉重疊，故觀察楊氏干涉條紋最好用單色光。楊氏曾用此干涉裝置測定了光波的波長。
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