材料X射線衍射與電子顯微分析:材料分析測試技術

圖書信息

作 者:周玉武高輝 著 叢 書 名:出 版 社:哈爾濱工業大學出版社ISBN:9787560313382 出版時間:2007-08-01 版 次:1 頁 數:283 裝

幀:平裝 開 本:所屬分類:圖書 > 科技 > 一般工業技術

內容簡介

材料分析測試技術》介紹了用x射線衍射和電子顯微技術分析材料微觀組織結構的原理、設備及試驗方法。內容包括:x射線衍射方向與強度、多晶體分析方法及x射線衍射儀、物相分析、巨觀應力測定、透射電鏡結構與原理、復型技術、電子衍射、衍襯成像、掃描電鏡結構與原理、電子探針顯微分析等。同時,簡要介紹了離子探針、低能電子衍射、俄歇電子能譜儀、掃描隧道與原子力顯微鏡及X射線光電子能譜儀等顯微分析方法,並附有實驗指導書和附錄。書中的實例分析注重引入了材料微觀組織結構分析方面的新成果。

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