主要用途
1.固體、粉末、薄膜和單晶等材料的磁性測量（1）常溫磁滯回線和初始化曲線，磁矩一磁場、溫度、時間、角度等關係曲線測量。給出飽和磁化強度（Ms)、剩磁（Mr)、矯頸力（Hc)、在Hc點的斜率、磁短平均值、噪音等參數。（2）軟磁測量：亥姆霍茲線圈產生最大磁場為100奧斯特（3）低溫區間的磁性測量，溫區可以在85～300k的範圍內隨意改變溫度，並可到液氦溫區（10k以上）。（4）高溫區的磁性測量，測試溫度從室溫到接近1000℃ （5）對材料各向異性的磁性測量，試樣轉角從0～360°，可測量樣品的三維磁性質。 2.納米尺度下的物理力學性能測試：可對包括有機高分子在內的固體材料和薄膜材料進行連續動態，荷載下納米硬度、彈性模量、納米劃痕、摩擦系統、屈服強度以及界面結合力的測試。
儀器類別：0314011901 /儀器儀表 /教學實驗儀器及裝置 /力學實驗儀器及裝置 /材料力學多用電測試驗儀
指標信息
規格：7英寸電磁鐵VSM系統；124×89×89cm3隔音櫃的納米物理性能測量裝置技術指標： 1.磁性測量：最大磁場強度：2T；磁性測量靈敏度：5×10-6emu 2.材料表面物理力學性能： XP型主機：位移解析度<0.01nm，最大壓痕深度>500um 最大載荷500mN，荷載解析度50nN，最大壓痕深度>15um 專門用於薄膜測量的DCM選件：位移解析度（公司標稱）<0.0002nm，最大荷載：10mN，解析度1RN
·可對包括有機高分子材料在內的固體和薄膜材料進行連續動態載荷下納米硬度，彈性模量等的測試；納米劃痕、摩擦係數以及界面結合力的研究。
·對超薄薄膜（100nm～500nm)材料硬度、彈性模量、載荷與位移深度關係進行研究。
·原子力顯微鏡（AFM）形貌觀察與分析。
·固體、粉末、薄膜和單晶樣品的磁滯回線，初始磁化曲線等的測量，磁矩和磁場溫度、時間、角度等變數關係的研究。
·高溫與低溫區間的磁性能測量，高溫從室溫可到1000℃，低溫從液氦溫區（10k以上）到液氮溫區（85～300k）。
·試樣轉角從0～360°，可測量樣品的三維磁性質。
