晶體檢測儀

晶體檢測儀

晶體檢測儀是全球第一款大視野快速檢測量測系統,配合本公司自行研發的軟體可對工件進行快速準確的量測,其操作簡單方便。真正實現了工件大批量、快速檢測,從而大大提高了工作效率。

基本信息

品牌:3DFAMILY型號:MacroScope120操作方式:自動
功能:二維測量精度:20μm軟體:3DFAMILY
其它型號:MacroScope50MacroScope90MacroScope150

產品介紹

晶體檢測儀-大視野影像量測儀:是全球第一款大視野快速檢測量測系統,配合本公司自行研發的軟體可對工件進行快速準確的量測,其操作簡單方便。真正實現了工件大批量、快速檢測,從而大大提高了工作效率。

產品特點

1、高速度、高效率、操作簡單方便。

晶體檢測儀晶體檢測儀

2、全視場獲取工件的平面信息,具有連續性。
3、高像素CCD相機,提高解析度與精度。
4、進口遠心鏡頭,減少畸變誤差。
5、可依據軟體的修改,調整工件測量的參數,節省硬體成本,增強靈活性。
6、數據輸出格式靈活,可依據客戶需求進行更改。
7、數據SPC統計與分析,利於產品質量管。

技術參數 

主要型號MacroScope120
測量範圍 (mm)

圓直徑:5—110;可視範圍:150×120
矩形130×120
影像攝取系統130萬像素cmos,1/2"黑白相機
鏡頭美國NAVITAR大視野遠心鏡頭
光源系統LED陣列冷光源,大範圍均勻照明
測量精度圓環0.02mm(全視場範圍內移動)
重複精度圓環0.005mm
軟體MacroScope專用軟體
使用環境電源供給:110V~220V±10%50/60HZ溫度:20±5℃濕度:45%-75%
保修期一年

套用領域

小尺寸TFT-LCD面板、油封、光學元器件、精密軸承、精密五金衝壓、電子元器件等。

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