探測器表面回響特性測試儀

探測器表面回響特性測試儀是為了滿足熱敏探測器表面回響均勻性測量而提出的。採用調製半導體雷射器作為探測器表面輻射源、兩次匯聚的光學系統、步進電機控制的二維平台、A/D和I/O板卡結合工控機，自行編制了軟體系統。

概述

1該測試儀是為了滿足熱敏探測器表面回響均勻性測量而提出的。採用調製半導體雷射器作為探測器表面輻射源、兩次匯聚的光學系統、步進電機控制的二維平台、A/D和I/O板卡結合工控機，自行編制了軟體系統。其主要創新點在於：1、光學聚焦系統設計；2、小光點探測和微弱信號的放大和噪聲的抑制；3、利用軟體定時器實現時序的配合和同步；4、利用步進電機細分控制實現高精度高密度的平面掃描；5、利用調用ActiveX控制項技術實現了探測器表面回響的3D圖形繪製。

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