相關詞條
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掃描透射離子微探針
英文：scann in ion
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掃描探針顯微鏡
掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscope，SPM）是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡（原子...
特點 套用 -
離子探針分析儀
二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品...
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離子束探針
離子束探針，以聚焦很細(1～2微米)的高能（10～20千電子伏）一次離子束作為激發源照射樣品表面，使其濺射出二次離子並引入質量分析器，按照質量與電荷之比...
離子探針質量顯微分析儀 離子探針質譜分析器 -
螢光探針技術
螢光探針的性質 膜螢光探針 細胞器螢光探針
圖書信息 內容簡介 圖書目錄 -
掃描電化學顯微鏡
掃描電化學顯微鏡(Scanning Electrochemical Microscopy, SECM)是顯微鏡的一種。基於電化學原理工作，可測量微區內物...
簡介 工作原理 服務範圍 套用領域 -
雷射掃描共聚焦顯微鏡
雷射掃描共聚焦顯微鏡（Laser scanning ConfocalMicroscopy，簡稱LSCM）是近代生物醫學圖象儀器。它是在螢光顯微鏡成象的基...
背景 雷射共聚焦顯微鏡結構 雷射共聚焦顯微鏡原理 套用 結語 -
二次離子質譜儀
二次離子質譜（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的原子或原子...
質譜原理 發展歷史 儀器分類 二次離子質譜儀組成 操作模式 -
掃描隧道電子顯微鏡
掃描隧道電子顯微鏡(scanning tunneling microscope，STM)是一種利用量子理論中的隧道效應探測物質表面結構的儀器，利用電子在...
背景 發展 原理 工作方式 套用 -
離子顯微鏡
E.W.彌勒於1951年發明的一種解析度極高(2～3┱)、能直接用於觀察金屬表面原子的分析裝置，簡稱FIM。FIM(Field Ion Microsco...
簡介 構造 演進 其它顯微鏡 場電離和場蒸發
